12121

ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ ПОЛИХРОМАТИЧЕСКОГО СВЕТА НА АМПЛИТУДНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ

Лабораторная работа

Физика

Лабораторная работа № 6 ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ ПОЛИХРОМАТИЧЕСКОГО СВЕТА НА АМПЛИТУДНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ Цель работы: определение границ видимой части спектра лампы накаливания Оборудование: источник света лампа накаливания экран со щелью и шкалой прозрачн...

Русский

2013-04-24

134.5 KB

17 чел.

Лабораторная работа № 6

ИЗУЧЕНИЕ ДИФРАКЦИИ ПОЛИХРОМАТИЧЕСКОГО СВЕТА НА АМПЛИТУДНОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКЕ

Цель работы: определение границ видимой части спектра лампы накаливания

Оборудование: источник света (лампа накаливания), экран со щелью и шкалой, прозрачная дифракционная решетка.

Краткие теоретические сведения

В простейшем случае дифракционная решетка представляет собой прозрачную стеклянную пластинку, на которую нанесены на одинаковом расстоянии друг от друга штрихи одинаковой ширины. В общем случае дифракционной решеткой называют любую периодическую структуру, способную повлиять на амплитуду или фазу падающей на нее электромагнитной волны. Если периодически меняющимся параметром является, например, прозрачность пластинки, то решетка называется амплитудной. Если периодически изменяются коэффициент преломления или геометрическая толщина, решетка называется фазовой.

Если прозрачную дифракционную решетку расположить перпендикулярно лучам белого света, а за ней поместить собирающую линзу, то на экране в фокальной плоскости линзы появится дифракционная картина. В направлении, совпадающем с нормалью к поверхности решетки, будет видна белая полоса (дифракционный максимум нулевого порядка для всех длин волн). В направлениях, составляющих определенные углы    с нормалью к поверхности решетки, наблюдаются главные дифракционные максимумы первого, второго и т. д. порядков, имеющие радужную окраску. Фиолетовый конец спектра каждого порядка обращен к центру дифракционной картины, красный – наружу. Дифракционные спектры расположены симметрично относительно центрального максимума и могут накладываться друг на друга для высоких порядков.

Рассмотрим механизм возникновения описанной дифракционной картины, используя явление дифракции Фраунгофера на одной, затем на двух и, наконец, на N щелях.

 ,  (1)

где ; I0 – интенсивность падающего света; – угол дифракции.

Исследование I на экстремум позволяет определить максимумы и минимумы дифракционной картины: если в разности хода между крайними лучами, падающими на щель, а затем испытывающими отклонение на угол от первоначального направления, укладывается нечетное число длин полуволн, т. е. при

,  (2)

где k = 0, 1, 2, 3, ..., то в направлении будет наблюдаться максимум дифракционной картины. Соответственно для минимумов дифракционной картины должно выполнятся условие

                     ,              = 1, 2, 3, ...           (3)

(в разности хода укладывается четное число полуволн).

Условия (2) и (3) легко получить, если воспользоваться методом зон Френеля.

Рассмотрение дифракции света на двух щелях, разделенных непрозрачным промежутком , если их считать отдельными когерентными источниками колебаний (аналог опыта Юнга), позволяет получить распределение интенсивности на экране в виде

 ,  (4)

в котором

,  (5)

где a  bsin – разность хода между сходными лучами от двух щелей.

Из (4) следует, что в случае N щелей одинаковой ширины в разделенных одинаковыми промежутками (дифракционная решетка) распределение интенсивности дифрагируемого света, формируемое дифракционной решеткой, будет иметь вид

.  (6)

Последний множитель выражения (6) учитывает интерференцию сходных (подобных) лучей от щелей. Исследование (6) на экстремум дает условие для наблюдения главных максимумов дифракционной картины

,  (7)

в котором d = a + b – период дифракционной решетки; k = 0, 1, 2, 3,...

Для главных минимумов имеем

,  (8)

где k = 1, 2, 3,... .

Кроме главных максимумов и минимумов наблюдаются дополнительные минимумы и максимумы соответственно при условиях:

,  (9)

где k0, N, 2N, .....,   k = 1, 2..., N – 1....;

,  (10)

где m = 1, 2, 3, ...,N – 2.

Таким образом, число главных максимумов в N раз меньше общего числа минимумов. Между двумя главными максимумами находятся N – 1 минимумов и N – 2 дополнительных максимумов. Интенсивность последних мала.

Для данного угла дифракции при совпадении максимумов (7) и минимумов (8) часть главных максимумов исчезает. Условие исчезновения максимумов имеет вид

 (11)

Интенсивность линий k-го порядка растет квадратично с увеличением числа щелей и обратно пропорционально квадрату порядка спектра:

  (12)

В центре дифракционной картины от решетки, где = 0, лежит не разложенный по длинам волн белый свет – спектр нулевого порядка, интенсивность которого

I  0 .                                                      (13)

На рис. 1 приведена дифракционная картина, получающаяся от решетки с четырьмя щелями (N = 4).

Рис. 1

Описание установки

Установка для измерения длин волн видимых границ дифракционных спектров излучения состоит из лампы накаливания 1, экрана со щелью 2 и дифракционной решетки 3 (рис. 2).

Рис. 2

В качестве источника света 1 используется лампа накаливания, дающая непрерывный спектр излучения (белый свет) в области 360 мк до 2,4 мк. Приемником излучения является глаз экспериментатора, который фиксирует видимую часть спектра с фиолетовой границей (400 нм) и красной (760 нм).

Экран со щелью 2 снабжен измерительной шкалой, которая позволяет фиксировать положение полос, соответствующих максимумам интенсивности наблюдаемой дифракционной картины, даваемой дифракционной решеткой.

В качестве дифракционной решетки 3, используется реплика (отпечаток) с гравированной решетки, которая содержит 100 штрихов на 1мм длины.

Свет, прошедший через щель 2 и решетку 3, попадает на хрусталик глаза, который выполняет роль линзы 4. Дифракционная картина получается на сетчатке  глаза, соответствующей фокальной плоскости линзы 5. Положение полос дифракционной картины по отношению к максимуму нулевого порядка (белая полоса в центре экрана) задается расстоянием l. Угол дифракции выражается через  расстояние от экрана до решетки S и l. Используя условие главных максимумов для дифракционной решетки (7), длину волны наблюдаемых полос можно вычислить из соотношения

 ,       где d – постоянная решетки.

Учитывая, что для спектров малых порядков (k=1,2)  l<<S, можно считать

.

Следовательно,

 .                                                   (14)

Полученное выражение является рабочей формулой для определения длины волны границ главных дифракционных максимумов.

Порядок выполнения работы

1. Включить лампу накаливания.

2. Установить экран на расстоянии S1 от дифракционной решетки.

3. Измерить расстояние l от центра шкалы (белый свет) до видимых границ дифракционных спектров (фиолетовых и красных) первого и второго порядков слева и справа от щели.

4. Сделать то же, что в п. 3, для расстояния S2.

5. Результат занести в таблицу.

Таблица

Цвет границ спектра

S

мм

     lk мм

lмм

i

мм



мм



мм



 мм

слева

справа

Фиолетовый

1

S1

2

1

S2

2

Красный

1

S1

2

1

S2

2

6. По рабочей формуле (14) вычислить значения длин волн для коротковолновой (фиолетовой) и длинноволновой (красной) границ спектра видимого излучения. Найти их средние значения  <>.

7. Оценить абсолютную и относительную погрешности измерений по формулам

;

.

8. Результаты измерений представить в виде

.

Контрольные вопросы

  1.  Какая дифракция наблюдается в работе (Френеля или Фраунгофера)?
  2.  Что называется дифракционной решеткой?
  3.  Какая дифракционная решетка называется амплитудной, а какая – фазовой?
  4.  Как определяется положение главных максимумов в случае падения параллельного пучка света на дифракционную решетку под углом   0?
  5.  Как влияет ширина щели на дифракционный спектр решетки?
  6.  Как изменится дифракционная картина, если часть решетки закрыть?
  7.  Чем отличаются дифракционные картины, полученные от решеток с различными постоянными d, но с одинаковым числом штрихов?

Библиографический список

к лабораторной работе № 6

1. Савельев, И. В. Курс общей физики: учеб. пособие / И. В. Савельев. – СПб.: Лань, 2005. – Т. 2. – § 130.

2. Савельев, И. В. Курс общей физики. Волны. Оптика: учеб. пособие для втузов / И. В. Савельев. – М.: Астрель, 2003. – Т. 4. – гл. 5 § 5.6.

3. Кингсеп, А. С. Основы физики / А.С. Кингсеп, Локшин, Г. Р., Ольхов, О. А.. – М., 2001. – ч. 3 гл. 8.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

50030. Екологічне право 1.16 MB
  Можливе існування різних видів власності на природні ресурси та користування ними, але безумовно визначення організаційно-правових форм приналежності природних обєктів конкретним соціальним субєктам є своєрідною формою взаємодії суспільства і природи.
50031. Инструментальные возможности программы Corel Draw 167 KB
  Это также наиболее известный из графических программных продуктов корпорации Corel которая наряду с dobe Corportion является ведущим производителем программных продуктов для компьютерной графики. Достоинствам продуктов Corel Corportion является разработка нескольких миллионов готовых изображений причем каждая линия в них поддается редактированию. В Corel Drw существуют не только мощные средства векторного редактирования но и средства верстки многостраничных документов а также подготовки их как в печатном так и в электронном виде.
50032. Измерение параметров индуктивности в цепи переменного тока 255 KB
  Цель работы: Определение импеданса сдвига фаз и измерение индуктивности на разных частотах в резистивно-индуктивной цепи. При работе на переменном токе с реактивными элементами в цепи индуктивность емкость следует обязательно учитывать их реактивный характер проводимости. Кроме того реактивные...
50033. Перевірка правил Кірхгофа 133.5 KB
  Мета роботи: перевірити правила Кірхгофа для кола постійного струму. Теоретичні пояснення правил Кірхгофа а також їх практичне використання для розрахунку розгалужених електричних кіл показані в розділі 3. Застосуємо перше правило Кірхгофа до вузла В...
50034. ИЗМЕРЕНИЕ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТИ ОБЪЕКТИВОВ 315 KB
  Как следствие фокусное расстояние объектива зависит от длины световой волны и если для одной длины волны изображение хорошо сфокусировано то для других длин волн хорошей фокусировки не наблюдается. Если как это обычно бывает оправа объектива круглая то изображение светящейся точки имеет вид круглого пятна окруженного концентрическими светлыми и темными кольцами рис. Способность объектива создавать раздельные изображения близко расположенных мелких деталей называется разрешающей способностью объектива. Чем меньше угол  тем ближе...
50035. Юридическая психология. Учебно-методический комплекс 677.5 KB
  Цель дисциплины – психологическая подготовка юриста к профессиональной деятельности, формирование эффективных приемов работы с людьми и овладение методами профессионально значимого самопознания и саморазвития личности.
50036. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЛИЧЕСТВА ВРЕДНЫХ ГАЗОВ В ВОЗДУХЕ ПРОИЗВОДСТВЕННЫХ ПОМЕЩЕНИЙ 1.08 MB
  Приводятся величины предельно допустимых концентраций ПДК вредных газов выше которых следует применять средства защиты: респираторы с противогазовыми патронами если концентрация вредного газа не превышает 10 ПДК или противогазы если концентрация вредного газа в воздухе выше 10 ПДК. ИЗУЧЕНИЕ И ВЫБОР СРЕДСТВ ИНДИВИДУАЛЬНОЙ ЗАЩИТЫ ОРГАНОВ ДЫХАНИЯ Цель работы: Изучить назначение устройство и область применения средств индивидуальной защиты органов дыхания СИЗОД. Порядок выбора СИЗОД их классификация и требования к применению...
50037. ОПРЕДЕЛЕНИЕ РАДИУСА КРИВИЗНЫ ЛИНЗЫ С ПОМОЩЬЮ КОЛЕЦ НЬЮТОНА 140 KB
  Кольца Ньютона. Классическим примером полос равной толщины являются кольца Ньютона. 1а видно что толщина воздушного зазора δ связана с радиусами наблюдаемых колец rk и радиусом кривизны линзы R следующим образом: 2 Учтем что δ R2 1 и пренебрегая этим слагаемым в формуле 2 получим: 3 С учетом 3 выражение 1 будет иметь вид: 4 Интерференционные максимумы светлые кольца получаются при условии если на разности хода укладывается четное число полуволн целое число длин волн: 5 где k = 0 1 2. порядок интерференции или...