12129

ИССЛЕДОВАНИЕ ВНЕШНЕГО ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА НА ФОТОЭЛЕМЕНТЕ

Лабораторная работа

Физика

Лабораторная работа №14 ИССЛЕДОВАНИЕ ВНЕШНЕГО ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА НА ФОТОЭЛЕМЕНТЕ Цель работы: Построение вольтамперных характеристик металлов фотоэлементов определение постоянной Планка определение работы выхода электронов с поверхности фотокатода...

Русский

2013-04-24

87.5 KB

31 чел.

Лабораторная работа №14

ИССЛЕДОВАНИЕ ВНЕШНЕГО ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА НА ФОТОЭЛЕМЕНТЕ

Цель работы: Построение вольт-амперных характеристик металлов фотоэлементов, определение постоянной Планка, определение работы выхода электронов с поверхности фотокатода.

Оборудование: Установка для изучения внешнего фотоэффекта ФПК-10, фотоприемники Ф-8 и Ф-25.

Теоретические сведения.

Внешним фотоэлектрическим эффектом (фотоэффектом) называется испускание электронов веществом под действием электромагнитного излучения (света). Это явление, открытое Герцем и исследованное Столетовым в конце XIXв., имеет чрезвычайно важное как теоретическое значение, приведшее к представлению о световых квантах, так и практическое, нашедшее широкое применение в приборах, называемых фотоэлементами.

Сущность явления фотоэффекта в современной физике объясняется квантовой теорией света. Согласно этой теории свет частоты (, где с – скорость света; - длина волны) не только покидает атом в виде порции энергии h, где h – постоянная Планка, но и в дальнейшем распространяется в виде такой же порции, локализованной и перемещающейся в пространстве как целое со скоростью света. Для таких элементарных световых порций принято название – фотон.

В металле имеются электроны, которые свободно перемещаются, но они не могут его свободно покинуть, так как удерживаются положительными ионами у поверхности. В этой поверхностной области возникает разность потенциалов (порядка 3-5 В), препятствующая выходу электронов из металла в окружающий вакуум. Следовательно, чтобы электрон мог выйти из металла, он должен преодолеть разность потенциалов, т.е. должен совершить работу, которая называется работой выхода электрона из металла. Она определяется соотношением А=еU, где е – заряд электрона, U – разность потенциалов (ее называют также контактным потенциалом металла или высотой потенциального барьера).

С точки зрения зонной теории под работой выхода А понимают минимальную энергию, которую необходимо сообщить электрону для его удаления с самых верхних заполненных уравнений потенциальной ямы за ее пределы (рис.1).

Поверхность металла

                          Авых                                                                              eU

            Рис. 1

Падающие на вещество кванты света, энергия которых h поглощаются атомами вещества. При поглощении металлом фотона его энергия передается свободному электрону. Эта энергия света намного больше тепловой энергии электронов. Электрон, получив энергию, может покинуть металл. Для этого он должен совершить работу выхода А. Если электрон получил энергию больше, чем А, то избыток энергии идет на сообщение ему кинетической энергии, за счет которой он двигается за пределами металла.

Эйнштейн теоретически обосновал количественную связь между энергией, получаемой электроном при его освобождении светом, и частотой этого света. В результате получил уравнение, названное его именем:

                                                                                          (1)

где h - энергия фотона; А – работа выхода электрона из металла;  - кинетическая энергия электрона.

Если энергия фотона такова, что ее достаточно только для совершения работы выхода, т.е. если , то вышедший электрон будет обладать нулевой скоростью. Частота  0 определяет ту наименьшую частоту, при которой возможен фотоэффект. Эта частота определяет «порог» фотоэффекта. Пользуясь связью частоты с длиной волны , можно найти длину волны 0, соответствующую порогу фотоэффекта. Данная длина волны называется «красной границей» фотоэффекта. Следовательно, излучение с длиной волны   0 способно вызвать фотоэффект, а с   0 фотоэффекта не вызывает, так как в этом случае   меньше работы выхода электрона.

Для большей части вещества «красная граница» находится в ультрафиолетовой части спектра. Но у ряда металлов, особенно щелочных, она лежит в видимой и инфракрасной частях спектра.

Во всех случаях явление, когда электрон под действием света покидает пределы вещества, носит название внешнего фотоэффекта.

Особую группу составляют вещества (например, селен), которые под действием света могут изменить свою электропроводность (явление возникновения фотопроводимости). Электрон, поглощая квант света, не покидает его, а благодаря приобретенной энергии, переходит в незаполненную зону, обуславливая тем самым электропроводность вещества. Это явление называется внутренним фотоэффектом.

Приборы, в которых осуществляется техническое применение фотоэффекта, называются фотоэлементами.

В настоящей работе изучается вакуумный фотоэлемент с внешним фотоэффектом. Такой фотоэлемент представляет собой пустотный стеклянный баллон, из которого выкачан воздух. На одну половину внутренней поверхности нанесен слой сурьмы, цезия, калия и натрия (SbKaNaCs). Образующееся при этом соединение и служит фотокатодом, обладающим малой работой выхода электронов. Он подключается к минусу внешнего источника тока. Анодом служит тонкая металлическая петелька или сетка, помещенная в центре баллона. Анод подключается к плюсу внешнего источника тока.

Принципиальная схема включения фотоэлемента в электрическую цепь приведена на pис.2.

              K

                                                                                                                        –

                                                                                                        R

                                                                                                                         +

Рис.2.

Если на катод К направить пучок света и приложить между анодом и катодом напряжение U, то электроны, вырванные светом с освещенного катода и ускоренные электрическим полем, полетят на анод.

Таким образом в цепи появится ток, называемый фототоком, который можно измерить миллиамперметром mА. Величина фототока пропорциональна световому потоку, падающему на катод.

Фототок растет с увеличением напряжения. Зависимость тока от анодного напряжения при постоянном световом потоке называется вольт-амперной характеристикой фотоэлемента. Величина тока, отнесенная к одному люмену светового потока, называется чувствительностью фотоэлемента.

У вакуумных фотоэлементов, начиная с некоторого значения анодного напряжения, прекращается дальнейший рост тока. Наступает состояние насыщения фотоэлемента. Оно обусловлено тем, что все вылетевшие из катода электроны полностью попадают на анод.

Однако фототок появляется в цепи и при отсутствии электрического поля между анодом и катодом, если фотоэлемент освещать светом. Электроны, вылетающие с катода под действием света, обладают определенной кинетической энергией. Следовательно, чтобы затормозить их движение, необходимо приложить к электродам задерживающую разность потенциалов (отрицательное напряжение), т.е. на катод подать положительный потенциал, а на анод – отрицательный. Чем больше будет задерживающая разность потенциалов между анодом и катодом, тем меньше электронов будет достигать анода, тем меньше миллиамперметр покажет ток.

При некотором значении разности потенциалов даже самые быстрые электроны не достигают анода, ток в цепи отсутствует. Условие этого

                                                                                             (2)

Величина UЗ называется задерживающей разностью потенциалов.

Таким образом, Столетов, изучая законы фотоэффекта на установке (рис.2), пришел к выводу:

  1.  Максимальная начальная скорость фотоэлектронов не зависит от интенсивности падающего света а определяется только его частотой (линейно возрастает с увеличением частоты).
  2.  Фототок насыщения пропорционален световому потоку.
  3.  Для каждого вещества существует минимальная частота, ниже которой фотоэффект не наблюдается.

Уравнение Эйнштейна (1) показывает, что задерживающая разность потенциалов зависит от частоты света, падающего на фотоэлемент, т.е.

                                               ,                                         (3)

так как

.

Задерживающие разности потенциалов для разных частот света 1 и 2 будут соответственно:

 ,                                         (4)

 .                                         (5)

Вычитая из (4) (5), получим

Откуда

                                                                               (6)

Таким образом, зная задерживающие потенциалы для частот 1 и 2, можно рассчитать постоянную Планка h.

Далее, зная постоянную Планка и частоту падающего света, можно вычислить работу выхода электрона из металла:

                                                А=h-eUз ,                                           (7)

где Uз – задерживающий потенциал, относящийся к соответствующей частоте .

Описание установки.

Все измерения проводятся на установке ФПК-10, состоящей из двух блоков, соединенных между собой кабелем: измерительного устройства и объекта исследования.

Объект исследования включает в себя осветитель (спектральную ртутную лампу) с источником питания, блок интерференционных светофильтров 1-4 и устройство регулировки освещенности. К корпусу прикреплен усилитель фототока, на верхнюю крышку которого устанавливаются сменные фотоприемники Ф-8 и Ф-25. При установке фотоприемников их приемное окно совмещается с выходным окном осветителя. На боковой крышке усилителя расположены регуляторы баланса усилителя «грубо» и «точно».

Измерительное устройство позволяет производить измерение тока фотоэлемента, установленного в объекте исследования, устанавливать и измерять питающие напряжения на фотоэлементе, а также осуществлять функции управления установкой (в том числе установка режимов прямого или обратного измерения). В прямом режиме пределы измерения напряжения от 0 до 40 В, в обратном от 0 до -2,5 В, Кнопки «+», «-» и «сброс»предназначены для регулировки напряжения на фотоэлементе и его сброса на ноль. Индикаторы В и мкА предназначены для индикации значений величин напряжения на фотоэлементе и фототока в процессе работы.

Таким образом, принцип действия установки основан на измерении тока через фотоэлемент при изменении полярности и величины приложенного к нему напряжения и изменения спектрального состава и величины освещенности катода фотоэлемента.

Порядок выполнения работы.

  1.  Установить на объект исследования фотоприемник с фотоэлементом Ф-8. Включить измерительное устройство. После 5-ти минутного прогрева ручками «установка нуля» на объекте исследования установить нулевое значение на индикаторе мкА измерительного устройства. При этом на барабане светофильтров должно стоять положение «0». При этом положении светофильтры отсутствуют.
  2.  Включить объект исследования и дать лампе осветителя прогреться в течение 15 минут.
  3.  При помощи кнопки «прямая-обратная» выбрать прямой режим измерения напряжения.
  4.  Ввести светофильтр №1.
  5.  Изменяя значения напряжения от 0 до 40 В при помощи кнопок «+» или «-» считывать показания фототока с индикатора «мкА». Результаты измерений занести в таблицу1.
  6.  Закончив измерения в прямом режиме, нажать кнопку «сброс». При этом напряжение сбрасывается до нулевого значения. Далее, кнопкой «прямая-обратная» выбрать обратный режим измерения. В обратном режиме интервал изменения напряжения от 0 до -2,5 В. Снять показания фототока до тех пор, пока фототок не примет нулевое значение. При этом напряжение будет запирающим Uз. Проводить измерения ниже Uз не рекомендуется.
  7.  По указанию преподавателя установить новый фотоэлемент и соответствующие светофильтры. Проделать измерения согласно п.3-6. Результаты занести в таблицу1.
  8.  По формуле (6) рассчитать постоянную Планка h.
  9.  По формуле (7) рассчитать величину работы выхода А (в электрон-вольтах) для разных длин волн.

Таблица 1.

Фотоприемник

Номер

фильтра

, нм

, с-1

U, В

I, мкА

1

407

2

435

3

546

4

578

Контрольные вопросы.

1. В чем заключается явление внешнего и внутреннего фотоэффекта?

2. Сформулировать законы Столетова и объяснить их с точки зрения квантовой теории света.

3. Записать уравнение Эйнштейна и объяснить его физический смысл для внешнего фотоэффекта.

4. Что такое «красная граница фотоэффекта»?

5. Объяснить природу задерживающего потенциала и его зависимость от длины волны излучения.

6. Какова зависимость фототока от освещенности катода? Объяснить ее с позиции квантового представления о свете.

7. Практическое применение фотоэлементов.

Библиографический список

к лабораторной работе № 14

1. Савельев, И. В. Курс общей физики: учеб. пособие / И. В. Савельев. – СПб.: Лань, 2005. – Т. 3. – § 9.

2. Савельев, И. В. Курс общей физики. Волны. Оптика: учеб. пособие для втузов / И. В. Савельев. – М.: Астрель, 2003. – Т. 5. – гл. 2 § 2.2.

3. Белонучкин, В. Е. Основы физики / В. Е. Белонучкин, Д. А. Заикин, Ю. М. Ципенюк. – М., 2001. –Т. 2. – ч. 4 гл. 2. § 2.2.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

21939. Оцінювання точності геодезичних вимірювань 207.5 KB
  Сукупність що впливають на результати вимірів називають комплексом умов: 1 об’єкт; 2 суб’єкт; 3 прилад; 4 метод; 5 зовнішнє середовище. При порушенні комплексу умов результати вимірів називають нерівноточними. Результати вимірів розглядають з точки зору кількісних та якісних характеристик. Математична обробка результатів вимірів дає можливість отримати як кількісні так і якісні характеристики.
21940. Вимірювання кутів 2.34 MB
  2: вертикальна вісь обертання теодоліта ZZ; вісь візування зорової труби VV; вісь обертання зорової труби НН; вісь циліндричного рівня LL; площина горизонтального кутовимірного круга ГК; площину вертикального кутовимірного круга ВК. П – з прямим зображенням зорової труби; М – маркшейдерське виконання; А – з автоколімаційним окуляром. 1 – зорова труба; 230 – вертикальний круг; 329 – колонки труби; 426 – горизонтальний круг; 522 – підставка теодоліта; 623 – підйомний гвинт; 724 – платформа; 8 – становий гвинт; 9 –...
21941. Загальні відомості. Системи координат в геодезії 130.5 KB
  Геодезія вивчає фігуру і розміри Землі зображення її поверхні на планах і картах виконання вимірювань необхідних для розв’язання різноманітних задач народного господарства та оборони країни. Розв’язання надзвичайно складних завдань привело до поділу геодезії на: Вищу геодезію – яка вивчає фігуру і розміри Землі її гравітаційне поле визначення координат точок земної поверхні. Супутникову геодезію – яка розглядає методи розв’язання геодезичних задач за допомогою штучних супутників Землі. Фотограмметрію і дистанційне зондування Землі –...
21942. Топографічні карти та плани 5.78 MB
  Топографічні карти та плани На попередній лекції ми розглянули геодезію як науку про Землю. Масштаби топографічних карт і планів Масштабом топографічної карти або плану називають відношення довжини лінії на карті плані до відповідної горизонтальної довжини цієї лінії на місцевості.5 де М – число яке показує ступінь зменшення ліній місцевості на карті плані і навпаки – ступінь збільшення ліній карти плану на місцевості тобто: на карті 2.7 Чим менший знаменник М чисельного...
21943. ОПОРНІ ГЕОДЕЗИЧНІ МЕРЕЖІ 2.87 MB
  Для зменшення впливу похибок вимірювань на точність визначення координат пунктів геодезичної мережі її створюють €œвід загального до часткового€. За цим принципом в Україні геодезична мережа поділяється на: державну геодезичну мережу; мережі згущення; знімальні мережі. Планові геодезичні мережі створюють способами: Астрономічний спосіб – полягає в визначені широти  довготи  кожного пункту та астрономічного азимута напрямів ліній геодезичної мережі за спостереженнями небесних світил.
21944. Топографічні знімання 9.53 MB
  Топографічні знімання Ми розглянули які виміри виконуються в геодезії як оцінити кількісні та якісні характеристики вимірів. Види знімань місцевості Процес виконання геодезичних вимірів для складання карт і планів місцевості називається зніманням. Якщо при зніманні визначають взаємне розміщення предметів та контурів місцевості то його називають горизонтальним або контурним зніманням. Знімання ситуації та рельєфу місцевості називають топографічним.
21945. ВИМІРЮВАННЯ ДОВЖИНИ ЛІНІЙ 1.36 MB
  Методи та прилади лінійних вимірювань Залежно від наявності приладів вимог точності умов місцевості лінії вимірюють способами: а прямим або безпосереднім способом за допомогою мірних стрічок рулеток підвісних мірних проволок та інших лінійних приладів; б непрямим або посереднім способом за допомогою ниткових віддалемірів та електрооптичних приладів світло та радіовіддалемірів геометричних побудов фігур на місцевості. Між закріпленими на місцевості точками А і В в створі лінії послідовно укладають мірний прилад. Створ лінії утворює...
21946. ВИМІРЮВАННЯ ПЕРЕВИЩЕНЬ 3.47 MB
  Види нівелювання Перевищенням називають різницю висот точок земної поверхні або будівельних конструкцій. Нівелювання – вид геодезичних робіт для вимірювання перевищень між точками земної поверхні або споруд. За методами розрізняють такі види нівелювання [1]: Геометричне – використовується принцип горизонтальності візирного променя зорової труби. В інженернобудівельній справі переважно використовуються: геометричне тригонометричне та гідростатичне нівелювання.
21947. Геодезичні розмічувальні роботи при плануванні та зведені інженерних споруд 1.67 MB
  Розмічування виконують в такій послідовності: 1 В точці А встановлюють теодоліт приводять в робоче положення і за ходом годинникової стрілки відкладають величину проектного кута . графічно зображено розмічування точки D з вихідного пункту В.Спосіб лінійної засічки Точка С в способі розмічування лінійною засічкою визначається перетином дуг проектних відстаней d1 і d2 віддалених від двох опорних пунктів A і В рис. Спосіб GPSрозмічування Використання GPSприймачів дозволяє визначати координати точок на земній поверхні та на поверхні...