14588

Теплоемкость. Определение теплоемкости модуляционным методом

Лабораторная работа

Физика

ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ № 3 Определение теплоемкости модуляционным методом по дисциплине Физика твердого тела Содержание Цель работы Изучение модуляционного метода измерения теплоемкости и определение теплоемкости вольфрама при высоких

Русский

2013-06-08

188 KB

18 чел.

ОТЧЕТ ПО ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ № 3

«Определение теплоемкости модуляционным методом»

по дисциплине «Физика твердого тела»

Содержание

  1.  Цель работы

Изучение модуляционного метода измерения теплоемкости и определение теплоемкости вольфрама при высоких температурах.

  1.  Используемые приборы
  2.  Магазин сопротивлений P 4831, R4;
  3.  Магазин емкостей P 5025, C4;
  4.  Мультиметр 43104, I1;
  5.  Цифровой осциллограф TDS 2024 B, УС1;
  6.  Селективный усилитель 28 ИМ, УС2;
  7.  Генератор сигналов Г3-33, Г1;
  8.  Блок питания GW Instek GPR-3060D, БП1.

  1.  Схема измерений

 

Рисунок 1 — Схема измерений

  1.  Результаты экспериментальных исследований

Таблица 1 — Экспериментальные данные и значения полной теплоемкости

T, К

R4, Ом

C4, мкФ

Iн, А

mc, Дж/К

1

1500

221,8

0,005

0,138

75,711

2

1600

239,7

0,006

0,16

79,49

3

1700

257,7

0,006

0,183

97,95

4

1800

276,2

0,007

0,210

104,45

5

1900

294,8

0,008

0,23

104,15

6

2000

313,5

0,009

0,25

103,95

7

2100

332,1

0,01

0,27

104,26

8

2200

351,8

0,01075

0,29

106,73

9

2300

370,9

0,01125

0,307

109,36

         Для расчета полной теплоемкости mc воспользовались формулой

     ,  где  ,

Рисунок 2 — Зависимость полной теплоемкости вольфрама от температуры

  1.  Выводы

        В данной работе я получил зависимость полной теплоемкости вольфрама от температуры, которая соответствует теоретическим данным. В области низких температур теплоемкость уменьшается пропорционально , а в области выс>ких температур теплоемкость практически постоянна.

      В ходе опыта мне было необходимо получить фигуру Лиссажу, стянутую в оBрезок прямой и расположенную горизонтально на экране индикатора. Причем уравновешенному состоянию моста соответсBвует прямая наименьшей толщины. Из-за слишком сильного влияния шумов на сигнал на глаз тяжело определить, к>гда линия будет наименьшей толщины. Поэтому измерения и были проведены с п>грешностью.

  1.  Замечания и конструктивные предложения

      В диапазоне температур от 1500 К до 1800 К, проводить измерения с более мелким шагом. Это позволит получить более точный график зависимости тепл>емкости вольфрама от температуры в области низких температур и уменьшит п>грешность измерений.

 

4

                                                                          


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

8050. Исследование горячеломкости сплавов систем Al - Si, Al - Cu , Al -Si - Cu 434 KB
  Введение Развитие современной науки и техники показало, что важной составляющей технологического производства являются качественные показатели получаемой продукции. Приоритетными направлениями являются: увеличение прочности, увеличение диапазона раб...
8051. Разработка модуля банковской информационной системы на базе технологии клиент-сервер 874.5 KB
  Глава 1. Теоретические аспекты проектирования информационных систем 1.1. Понятие и классификация информационных систем Информационная система (ИС) - это система, реализующая информационную модель предметной области, чаще всего -какой-либо...
8052. Модернизация телефонной сети в сёлах Унгенского района с внедрением услуг triple play на базе оборудования SI3000 Msan 2.37 MB
  Модернизация телефонной сети в селах Унгенского района с внедрением услуг tripleplay на базе оборудования SI3000 Msan В связи с развитием экономической активности Республики Молдова, значительной степени миграции населения, существен...
8053. История зарождения и развития представлений о дидактике как науке 32.83 KB
  История зарождения и развития представлений о дидактике как науке Дидактика есть часть педагогики, приобретающая в настоящее время черты самостоятельной научной дисциплины. Предметом дидактики являются процессы образования и обучения, которые тесно ...
8054. Основы дидактики 29.08 KB
  Основы дидактики Проблемы обучения и образования исследует часть педагогики, которая называется дидактикой. Термин дидактика греческого происхождения и в переводе означает поучающий. Основными категориями дидактики являются: преподавание, учение...
8055. Тенденции развития современного образования 24.92 KB
  Тенденции развития современного образования Системы образования призваны способствовать реализации основных задач социально - экономического и культурного развития общества, ибо именно школа, вуз готовят человека к активной деятельности в разных сфе...
8056. Национальная система образования РБ 23.12 KB
  Национальная система образования РБ В соответствии с действующим законодательством руководство образованием в Республике Беларусь осуществляют органы государственного управления (законодательство - Верховный Совет республики, исполнение законов...
8057. Процесс обучения, его сущность, структурные компоненты, их характеристика 23.21 KB
  Процесс обучения, его сущность, структурные компоненты, их характеристика. Обучение - это целенаправленный процесс, направленный на формирование личности посредством передачи научных знаний и усвоение культурного опыта общества. Уже в древности...