15249

Исследование ДТЛ, РТЛ и ТТЛ. Работа с АЦП и ЦАП

Лабораторная работа

Коммуникация, связь, радиоэлектроника и цифровые приборы

Лабораторный практикум № 3 по курсу Электротехника и электроника часть 2 на тему Исследование ДТЛ РТЛ и ТТЛ. Работа с АЦП и ЦАП Вариант № 6 Данный отчет посвящен выполнению лабораторного практикума с использованием программных средств Micro-Cap 9 и MathCAD 15.

Русский

2013-06-11

1.07 MB

103 чел.

Лабораторный практикум № 3

по курсу « Электротехника и электроника, часть 2 »

на тему

«Исследование ДТЛ, РТЛ и ТТЛ.

Работа с АЦП и ЦАП»

Вариант № 6


СОДЕРЖАНИЕ

 Аннотация………………………………………………………………………………………………3

  1.  Исследование РТЛ. Микрокап.………………………………………………………………..4
  2.  Исследование РТЛ. Мультисим……………………………………………………………….6
  3.  Исследование ДТЛ. Микрокап ……………………………………………………………….8
  4.  Исследование ДТЛ. Мультисим …………………………………………………………….10
  5.  Исследование ТТЛ. Микрокап...……………………………………………………………..12
  6.  Исследование ТТЛ. Мультисим ……………………………………………………………..15
  7.  Исследование ЦАП  и АЦП в Мультисиме.………………………………………………...16

 Заключение…………………………………………………………………………………………..20

 Список литературы………………………………………………………………………………….21


Аннотация

Данный отчет посвящен выполнению лабораторного практикума с использованием программных средств Micro-Cap 9 и MathCAD 15.

В данной работе проводится исследование ДТЛ, РТЛ и ТТЛ .

В работе изучаются:

  •  логические схемы;
  •  их поведение при разных подаваемых входных сигналах,
  •  временные характеристики,
  •  таблицы истинности,
  •  работа с АЦП и ЦАП

  1.  Исследование РТЛ. Микрокап.

 

Тип транзистора определяется номером транзистора по списку в файле Sovbipol.lib:

.MODEL KT3107I                PNP(IS=10E-15 VAF=70 VAR=8V BF=460 IKF=.1A NC=4 NE=4

+                            ISE=50NA ISC=50NA RB=5 RE=.5 CJC=10PF CJE=14PF

+                            TR=100NS TF=.6NS )

Проводим временной анализ. Для этого настраиваем источники как показано на рисунке ниже:

Получаем характеристики:

Теперь исследуем логическую схему на реакции ее транзисторов при изменении подаваемого напряжения(Dinamic DC):

Получили ряд возможных реакций. Составим таблицу истинности:

Q1

Q2

OFF

OFF

OFF

ON

ON

OFF

ON

ON

 

2.Исследование РТЛ. Мультисим.

Схема:

 Проводим временной анализ. Для этого настраиваем источники также как в программе Микрокап:

Результаты для исследования реакций транзисторов получились идентичными.

Вывод:

РТЛ-элемент выполняет функцию ИЛИ-НЕ в позитивной логике или И-НЕ в негативной. Относительное низкоомное базовое сопротивление обеспечивает полное открывание транзисторов при малом потреблении тока, что однако приводит к малой нагрузочной способности элемента.

   3.Исследование ДТЛ. Микрокап.

Тип транзистора определяется номером транзистора по списку в файле Sovbipol.lib:

.MODEL KT3107I                PNP(IS=10E-15 VAF=70 VAR=8V BF=460 IKF=.1A NC=4 NE=4

+                            ISE=50NA ISC=50NA RB=5 RE=.5 CJC=10PF CJE=14PF

+                            TR=100NS TF=.6NS )

Проводим временной анализ. Для этого настраиваем источники как показано на рисунке ниже:

Теперь исследуем логическую схему на реакции ее транзисторов при изменении подаваемого напряжения(Dinamic DC):

Получили ряд возможных реакций. Составим таблицу истинности:

D1

D2

D3

D4

Q1

ON

ON

OFF

OFF

OFF

ON

OFF

OFF

OFF

OFF

OFF

ON

OFF

OFF

OFF

OFF

OFF

OFF

ON

ON

 

4.Исследование ДТЛ. Мультисим.

Схема:

 Проводим временной анализ. Для этого настраиваем источники также как в программе Микрокап:

Результаты для исследования реакций транзисторов получились идентичными.

Вывод:

РТЛ-элемент выполняет функцию И-НЕ. Низкий уровень на любом из входов («0») приводит к закрытию транзистора, то есть высокому уровню на выходе («1»). Транзистор открыт только тогда, когда на каждый из входов подается высокий уровень.

5.Исследование ТТЛ. Микрокап.

Тип транзистора определяется номером транзистора по списку в файле Sovbipol.lib:

.MODEL KT3107I                PNP(IS=10E-15 VAF=70 VAR=8V BF=460 IKF=.1A NC=4 NE=4

+                            ISE=50NA ISC=50NA RB=5 RE=.5 CJC=10PF CJE=14PF

+                            TR=100NS TF=.6NS )

Проводим временной анализ.

Теперь исследуем логическую схему на реакции ее транзисторов при изменении подаваемого напряжения(Dinamic DC):

Получили ряд возможных реакций. Составим таблицу истинности:

Q1a

Q1b

D1

D2

Q2

ON

ON

OFF

OFF

OFF

ON

OFF

OFF

OFF

OFF

OFF

ON

OFF

OFF

OFF

OFF

OFF

ON

ON

ON

6.Исследование ТТЛ. Мультисим.

Схема:

Проводим временной анализ. Для этого настраиваем источники также как в программе Микрокап:

Результаты для исследования реакций транзисторов получились идентичными.

Вывод:

РТЛ-элемент выполняет функцию И-НЕ. Как более эффективная технология, она устраняет проблему задержки прохождения сигнала. Данная проблема решена путем замены диодов на мультиэммитерный транзистор, что позволяет добиться более плотной схемы.

7.Исследование ЦАП  и АЦП в Мультисиме.

Схема:

Аналоговый сигнал является непрерывной функцией времени, в АЦП он преобразуется в последовательность цифровых значений. Следовательно, необходимо определить частоту выборки цифровых значений из аналогового сигнала. Частота, с которой производятся цифровые значения, получила название частота дискретизации АЦП.

Непрерывно меняющийся сигнал с ограниченной спектральной полосой подвергается оцифровке (то есть значения сигнала измеряются через интервал времени T — период дискретизации) и исходный сигнал может быть точно восстановлен из дискретных во времени значений путём интерполяции. Точность восстановления ограничена ошибкой квантования. Однако в соответствии с теоремой Котельникова-Шеннона точное восстановление возможно только если частота дискретизации выше, чем удвоенная максимальная частота в спектре сигнала.

Поскольку реальные АЦП не могут произвести аналого-цифровое преобразование мгновенно, входное аналоговое значение должно удерживаться постоянным по крайней мере от начала до конца процесса преобразования (этот интервал времени называют время преобразования). Эта задача решается путём использования специальной схемы на входе АЦП — устройства выборки-хранения — УВХ. УВХ, как правило, хранит входное напряжение на конденсаторе, который соединён со входом через аналоговый ключ: при замыкании ключа происходит выборка входного сигнала (конденсатор заряжается до входного напряжения), при размыкании — хранение. Многие АЦП, выполненные в виде интегральных микросхем содержат встроенное УВХ.

В моем получается примерно 4762Гц. Вычислено из периода с учетом 8 разряда.

Точность:

Имеется несколько источников погрешности АЦП. Ошибки квантования и (считая, что АЦП должен быть линейным) нелинейности присущи любому аналого-цифровому преобразованию. Кроме того, существуют так называемые апертурные ошибки которые являются следствием джиттера (англ. jitter) тактового генератора, они проявляются при преобразовании сигнала в целом (а не одного отсчёта).

Эти ошибки измеряются в единицах, называемых МЗР — младший значащий разряд. В приведённом выше примере 8-битного двоичного АЦП ошибка в 1 МЗР составляет 1/256 от полного диапазона сигнала, то есть 0,4 %, в 5-ти тритном троичном АЦП ошибка в 1 МЗР составляет 1/243 от полного диапазона сигнала, то есть 0,412 %, в 8-тритном троичном АЦП ошибка в 1 МЗР составляет 1/6561, то есть 0,015 %

1.Характеристика:

Так как отсутствует фильтр – ступеньки. Вниз характеристика не идет, так как отрицтельные значения вольт измерить нельзя.

2.Для их измерения можно включить в схему операционный усилитель или диодный мост, что приведет к смещению характеристик вверх.

Или можно:

3.При увеличении получаем большие искажения:

При уменьшении наоборот:

Заключение: Выполнив данную работу, я ознакомился с устройством логических цепей и их использование. Научился работать с АЦП и ЦАП и анализировать их в MultiSim. Изучил новые для себя возможности пакетов программ MultiSim и MicroCap.

Список литературы:

  1.  Методички для выполнения ЛР №3.
    1.  Лекции. Преподаватель: Загидулин Р.Ш..  


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

42274. ИЗУЧЕНИЕ СТРУКТУРНОЙ СХЕМЫ КВАЗИЭЛЕКТРОННОЙ АТС “КВАНТ” 73.5 KB
  Изучение принципов построения и структурной схемы квазиэлектронной АТС €œКвантâ€.Изучить принципы построения КЭ АТС Квантâ€. Изучить конструкцию и технические характеристики КЭ АТС â€œКвантâ€.
42275. КОНТРОЛЬ ФОРМЫ ПОЛИРОВАННЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЕНЕВЫМ МЕТОДОМ 351 KB
  Форма волнового фронта падающего света должна быть известна заранее или соответствовать идеальной форме поверхности контролируемой детали. При отражении фронта световой волны от поверхности имеющей зональные и местные ошибки он деформируется в соответствии с видом и конфигурацией этих ошибок. Деформация h фронта: где  ошибка поверхности детали;  угол падения света на поверхность детали.
42276. Изучение программы Packet Tracer 5.1. Изучение интерфейса командной строки Cisco IOS 476.5 KB
  Введите e для отображения команд начинающихся с буквы e . Введите en. Введите команду enble в приглашение маршрутизатора. Введите c в приглашение CustomerRouter и нажмите клавишу Tb .
42277. Изучение структурных схем регистра и маркера ступеней АИ, ГИ АТСК-У 279 KB
  Изучить структурную схему АРБ АТСКУт и структурную схему маркера ступеней ГИ и АИ АТСКУ. Изучить комплектацию статива АРБ. Назначение и структурная схема АРБ. Абонентские регистры АРБ рассчитаны на прием шлейфных батарейных импульсов из аппаратов вызывающих абонентов и на выдачу информации многочастотным способом в маркеры координатных АТС и батарейным способом в приборы декадношаговых АТС.
42278. СКЛЕИВАНИЕ ЛИНЗ 408.5 KB
  Если например между положительной линзой из стекла марки К8 и отрицательной линзой из стекла марки ТФ1 будет воздушный промежуток то количество света отражаемого свободными поверхностями составит 18. Приведя поверхности в соприкосновение или заполнив промежуток между ними средой с показателем преломления равным или близким показателю преломления одной из линз потери света на отражение уменьшаются примерно до 10. Линзы в большинстве случаев склеивают веществами бальзамин М ОК72Ф ОК50 и др.
42279. Настройка статических маршрутов 58.5 KB
  Щелкните ПК офиса филиала BOpc и перейдите по ссылкам Desktop Commnd Prompt . Запишите IPадрес ПК офиса филиала BOpc и адрес шлюза по умолчанию. Адрес шлюза по умолчанию это IPадрес интерфейса FstEthernet для Офиса филиала BrnchOffice.1 адрес шлюза по умолчанию для локальной сети Офиса филиала BrnchOffice в запросе команды в ПК офиса филиала BOpc.
42280. Исследование индуктивно-связанных цепей 288.5 KB
  Целью работы является экспериментальное определение параметров двух индуктивно связанных катушек и проверка основных соотношений индуктивно связанных цепей при различных соединениях катушек. Подготовка к работе Схема замещения двух индуктивно связанных катушек удовлетворительно учитывающая электромагнитные процессы в диапазоне низких и средних частот представлена на рис. 1 где L1 R1 и L2 R2 индуктивности и сопротивления соответственно первой и второй...
42281. ЗАКОНЫ СТОЛКНОВЕНИЙ 931 KB
  Обозначим массы шаров и скорости шаров до удара и а скорости после удара и рис. 5 Скорости шаров после удара получим умножив 5 на и вычтя результат из 3 а затем умножив 5 на и сложив результат с 3: . Рассмотрим неупругое столкновение двух шаров массами и скорости которых до удара и . Установка предназначена для измерения скорости двух подвижных...
42282. ОСНОВНОЕ УРАВНЕНИЕ ДИНАМИКИ ВРАЩАТЕЛЬНОГО ДВИЖЕНИЯ ВОКРУГ НЕПОДВИЖНОЙ ОСИ 981 KB
  Изучение динамики вращательного движения твердого тела. Исследование зависимости угла поворота твердого тела от времени, экспериментальная проверка основного уравнения динамики вращательного движения, определение момента инерции твердого тела как коэффициента пропорциональности в основном уравнении