16548

Получение рентгенограмм порошковых материалов на дифрактометре

Лабораторная работа

Коммуникация, связь, радиоэлектроника и цифровые приборы

Лабораторная работа Получение рентгенограмм порошковых материалов на дифрактометре. Цель работы: освоение способов подготовки порошковых образцов и регистрации дифракционных спектров на дифрактометре; В процессе выполнения работы необходимо: изучить реком

Русский

2013-06-22

407.5 KB

53 чел.

Лабораторная работа

Получение рентгенограмм порошковых материалов на дифрактометре.

Цель работы: освоение способов подготовки порошковых образцов и регистрации дифракционных спектров  на дифрактометре;

В процессе выполнения работы необходимо:

-  изучить рекомендации по методикам приготовления порошковых проб в зависимости от конкретных особенностей исследуемого объекта,

- выбрать и обосновать сделанный выбор методики,

- приготовить образец для получения рентгенограммы на дифрактометре,

- провести регистрацию дифракционного спектра исследуемого образца в заданном угловом диапазоне,

- оформить полученную рентгенограмму. В журнале отметить:

  1.  название (формулу) исследуемого вещества;
    1.  время регистрации рентгенограммы (число, месяц год);
    2.  длину волны используемого излучения;
    3.  режимы регистрации рентгенограммы: ускоряющее напряжение на трубке, ток через трубку, щели, скорость сканирования. (чувствительность прибора (число имп/сек), постоянную времени ; скорость съемки если регистрация осуществляется на диаграммную ленту);
    4.  связующий материал (если он применялся) при помещении образца в рентгеновскую кювету;

- качественно оценить полученную рентгенограмму: определить, в аморфном или кристаллическом состоянии находится изучаемое вещество;

- измерить , рассчитать по формуле (1) значения  для всех линий.

- составить таблицу результатов измерений,

- ответить на контрольные вопросы,

- оформить отчет

Краткая теория. Рентгенография поликристаллических образцов позволяет:

  1.  определять состояния твердого тела (кристаллическое, аморфное, аморфное с кристаллическими включениями);
  2.  определять параметры элементарной ячейки неизвестного вещества;
  3.  производить структурный анализ несложных структур - определять координаты атомов в элементарной ячейке;  
  4.  исследовать фазовые переходы;
  5.  исследовать фазовый состав вещества (производить качественный и количественный анализы).

При получении рентгенограмм поликристаллов с использованием дифрактометра используется плоский препарат. Это может быть нанесенный каким-либо способом на плоскость держателя порошок, или спрессованная из порошка таблетка, или срез (аншлиф) массивного поликристаллического агрегата, например металла. Оптимальный размер частиц в порошке  ~10 мкм. Для достижения оптимальных размеров применяют просеивание предварительно измельченного образца через сита с заданным размером ячейки. Предварительное измельчение порошка  производится в агатовой или чугунной ступке.

Способ приготовления порошкового препарата выбирается в зависимости от решаемой задачи. Для получения пробной, обзорной рентгенограммы порошковый образец насыпают в рентгеновскую кювету и перемешивают с каким-либо связующим материалом. Можно использовать вазелин, но в очень малых количествах. Обычно готовят «кашицу» из порошка со спиртом, затем прессуют, чтобы порошок не высыпался из кюветы. Однако за счет прессования в препарате может возникнуть нежелательная текстура по плоскостям спайности или граням кристаллитов. Следует помнить об этом при выравнивании поверхности порошка в кювете.

Для идентификации фаз и измерения параметров ячейки, когда не предъявляется жестких требований к точности измерения интенсивности отражений, препарат можно  готовить прессованием на стекле. Стеклянный кружок диаметром ~25 мм смазывают пленкой вазелина. Сверху равномерным слоем  наносят порошок образца (мг) или его смеси со стандартом (рис. 1, а). На порошок накладывают стеклянную пластину и, слегка покачивая ее и постепенно увеличивая давление, разравнивают порошок, прессуют его (рис. 1, б). И в этом случае такое прессование препарата может привести к текстурированию по плоскостям спайности или граням кристаллов. Текстура не является помехой при измерении положения пиков. Однако в случае кристаллов с весьма совершенной спайностью текстурирование может оказаться очень сильным. В этом случае с рентгенограммы могут исчезнуть  практически все отражения, кроме отвечающих плоскостям спайности. При этом интенсивность последних возрастает, и появляются их более высокие порядки отражения, которые можно использовать для более точного измерения данного межплоскостного расстояния.

Полученный препарат крепят в стеклянной кювете на пластилине и придавливают сверху стеклянной пластиной, для того чтобы поверхность образца оказалась параллельной каемке кюветы (рис. 1, в). Кювету привинчивают к держателю, в результате чего на отъюстированном гониометре поверхность образца совмещается с плоскостью фокусировки. Если образец плоский, то его прикрепляют минимальным количеством пластилина по центру кюветы. Вращение образца приводит к увеличению эффективного объема, участвующего в формировании дифракционной картины и уменьшению влияния текстуры.

При необходимости точного измерения интенсивности максимумов (при проведении количественного фазового или структурного анализа) тщательно растертый порошок исследуемого вещества набивают в стеклянную лунку диаметром 20 и глубиной 2 мм и спрессовывают (рис. 2, а).  

Указанные размеры лунки, позволяют избежать потерь первичного пучка по площади (рис. 3,а) и глубине (рис. 3,6) препарата. Для контроля над потерями пучка можно использовать металлическую лунку, которая при съемке дает свою дифракционную картину в том случае, если пучок выходит за пределы препарата. Если используют стеклянную лунку, то контроль  пучка по площади препарата осуществляют люминесцирующим экраном, а для контроля по глубине препарата проводят пробную съемку, поместив на дно лунки (под образец) металлическую фольгу. Фольга даст дифракционную картину, если первичный пучок, пройдя сквозь  образец, будет еще обладать достаточной для этого энергией. В таком случае следует увеличить толщину препарата.

Для устранения текстуры препарат готовят с разбавителем. Разбавитель должен быть рентгеноаморфным и упругим (древесные опилки, крахмал и др.) или вязким (вазелин и др.). Для соединений с весьма совершенной спайностью (слюды, глинистые минералы) можно использовать более эффективную методику распыления материала с разбавителем. В любом случае предварительно записывают дифрактограмму чистого разбавителя, чтобы познакомиться с его дифракционной картиной и убедиться в отсутствии в нем кристаллической фазы.

Приемлемой разориентацией частиц обладает препарат с вазелином. Образец и вазелин тщательно перемешивают в лунке до состояния густого «теста», избыток которого срезают в одно касание ребром пластины (рис. 2, б). Не следует приглаживать поверхность препарата, так как это приводит к текстурированию. В случае неудачного среза «тесто» снова перемешивают и операцию повторяют.

Разбавитель несколько ухудшает геометрию препарата и увеличивает интенсивность фона, что приводит к завышению статистической ошибки счета, особенно для слабых пиков. Поэтому следует стремиться использовать препарат без разбавителя, убедившись предварительно, что он не текстурирован. Такой препарат получают обычно из пудры химически приготовленного вещества или хорошо растертых кристаллов, обладающих несовершенной спайностью.

Полезно предварительно измерить в препаратах без разбавителя и с вазелином интенсивность десятка сильных отражений, включая отражения от предполагаемых плоскостей спайности и граней роста кристаллов. Препарат без разбавителя можно считать нетекстурированным и пригодным для дальнейшей работы, если от него получены те же относительные интенсивности отражений, что и от препарата с вазелином.

Плоский образец может быть произвольной формы, но размером не менее , должен вписываться в окружность диаметром 25 мм, толщина образца не должна превышать 10 мм. После приготовления образца путем механической обработки производят стравливание наклепанного слоя на глубину 0,15 - 0,2 мм химическим травлением. Поверхность образца должна быть строго параллельна каемке кюветы.

Экспериментально рентгенограммы  исследуемых объектов могут быть получены с применением различных рентгеновских камер на  рентгеновских установках с фотографической регистрацией (установки УРС-2,0; УРС-60 и т.д.) и на установках с применением регистрации  дифракционной картины с помощью детекторов рентгеновского излучения (отечественные дифрактометры рентгеновские общего назначения ДРОН-2; ДРОН-З и т.д. с горизонтальными гониометрами, дифрактометры зарубежных фирм “Bruker”, “Thermo Techno”, Shimadzu с вертикальными гониометрами).

В результате регистрации дифракционного спектра  на дифрактометре  получается дифрактограмма (рентгендифракционный спектр) в виде заданной по точкам спектральной функции, выведенной на цифропечать, в виде графического изображения этой функции на ленте самописца, либо сохраняется в виде цифровой информации  в памяти компьютера для дальнейшей обработки. Для краткости будем употреблять термин дифрактограмма или рентгенограмма, хотя использование термина «рентгендифракционный спектр» является более правильным. Он отражает физическую специфику получения спектра и указывает, что дифрактограмма относится к информации спектрального типа.  Тем самым подчеркивается информационная общность дифракционного спектра со спектральной информацией иной физической природы (оптическими, ИК -, УФ -, масс-спектрами, хроматограммами и т. д.), которая выражается в сходности процедур предварительной и окончательной обработки экспериментальных данных подобного типа.  Фрагмент дифракционного спектра представлен на рис. 4а.

Современные дифрактометры позволяют получить дифракционный спектр в диапазоне углов  от 2-4 до 140-160 градусов с шагом . Если считать, что половина диапазона полученного спектра относится к областям фона, то информативные области спектра (области линий) будут содержать порядка  7,5·103 - 15·103 точек. Таким образом, для точного представления дифракционного спектра, содержащего информацию о форме рентгеновских линий, необходимо хранить массивы, содержащие тысячи чисел (значений интенсивности). Однако для решения конкретных аналитических задач, как правило, нет необходимости в хранении всего спектра или его части в полном представлении, приведенном на рис. 4,а. Производится предварительная обработка спектра - отделение фона, определение положений пиков (по их максимумам или центрам тяжести), вычисление интегральных интенсивностей, результатом которой является сжатие спектральной информации примерно на два порядка. Такой сжатый дифракционный спектр представляется в виде совокупности пар значений  или , где   или определяет положение - ой линии в шкале углов  или межплоскостных расстояний , а  есть интегральная интенсивность ой  линии. Графически сжатый спектр представляется в виде штрих диаграммы (рис. 4.б).

Величины межплоскостных расстояний  определяются из уравнения Вульфа – Брэгга (1), где  - длина волны используемого характеристического излучения,  - угол скольжения.

Для получения качественной рентгенограммы исследуемого объекта необходимо выполнить ряд условий:

  1.  отсутствие вторичного характеристического излучения материалом образца, вуалирующего рентгенограмму. Интенсивное вторичное излучение возникает в том случае, если атомный номер вещества анода на 2-3 единицы больше атомного номера элементов исследуемого образца. Например,  (Z = 26) на излучении - анода (Z = 29) дает интенсивное вторичное рентгеновское излучение, вуалирующее дифракционную картину;
  2.  наличие достаточного количества линий;
  3.  достаточную  разреженность линий;
  4.  условия 2 и 3 противоречивы. Чем меньше длина волны излучения, тем больше на рентгенограмме линий и хуже их разрешение.

В табл. 1 приведена характеристика линий - серии для наиболее распространенных анодов.

Наиболее яркие линии принадлежат - серии, в состав которой входят линии  и др. 

На малых углах  линии  и  на рентгенограммах обычно сливаются. Дублет  и  может разрешиться только при больших углах  у достаточно хорошо окристаллизованного материала. Обычно в этом случае при расчете используют средневзвешенное значение длины волны , которое обозначают просто, что обусловлено соотношением . Кроме того, на рентгенограмме выявляются линии , которые отвечают длине волны . Остальные линии слабы и сливаются с общим фоном рентгенограммы.

Регистрация рентгенограмм осуществляется при автоматическом синхронном вращении образца и детектора в горизонтальной плоскости вокруг общей вертикальной оси гониометра с соотношением скоростей  .   При  этом детектор   измеряет   интенсивность   дифракционной   картины   последовательно под разными углами отражения. Показания детектора регистрируются   на   диаграммной   ленте,    которая   движется   синхронно с вращением счетчика, или компьютером. В результате фиксируется кривая зависимости интенсивности дифракционной картины от угла отражения - дифрактограмма.

 Первичную информацию о состоянии вещества можно получить из внешнего вида рентгеновских спектров. Хорошо окристаллизованный и однородный по параметрам решетки материал дает  узкие   и высокие дифракционные пики (рис.5), плохо окристаллизованный, неоднородный материал - широкие и низкие.

Типичная дифрактограмма поликристалла (рис. 5) представляет собой серию пиков на плавной линии фона. Каждый пик является отражением - го порядка от серии плоскостей  с межплоскостным расстоянием . Его положение на рентгенограмме (угол ) при регистрации рентгенограммы на излучении с длиной волны  определяется уравнение Брэгга - Вульфа (1):

 

                                 (1) 

Отражения с близкими значениями  на рентгенограмме могут накладываться, что  затруднит ее расшифровку. Число возможных наложений пропорционально количеству рефлексов и определяется фактором повторяемости. Оно минимально в случае высокосимметричных кристаллов с небольшой ячейкой.

Следует иметь в виду, что рентгенограммы многофазных систем лучше регистрировать в «мягком» излучении с большой длиной волны. При этом достигается максимальное разрешение   линий на рентгенограмме.

Рентгенограмма аморфного образца имеет характерный вид - это широкая линия  (галло) с угловой шириной = 10-20° (рис. 6). Возникают такие отражения за счет существования ближнего порядка в расположении атомов аморфной фазы. В простейшем случае (плотная упаковка сферических атомов элементов нулевой группы) положение первого такого максимума примерно соответствует кратчайшему межатомному расстоянию.

Обычно запись спектра на дифрактометре ведется с - фильтром на - излучении. При измерении положения - пиков возникают трудности за счет существования - дублета. Дублет разрешается тем лучше, чем больше угол , меньше скорость вращения счетчика и совершеннее и однороднее изучаемые кристаллы. В зависимости от степени разрешения дублета пик измеряют в разных точках, и измерения отвечают разным длинам волн:  и .

При записи рентгенограммы на скорости вращения образца 0.5 градус/мин пики   и  в малоугловой области () сливаются настолько, что виден один, практически симметричный, пик . Его положение рекомендуется измерять на высоте 1/3-1/2 от основания. Выше - зона разрешения дублета.

Под большими углами отражения () со стороны больших углов (с левой стороны пика) появляется своеобразная «подпорка» - компонента , но разрешение еще недостаточно для раздельного измерения пиков  и . Процедура измерения проводится так же, как и в предыдущем случае.

При дальнейшем увеличении угла отражения () появляется возможность измерения пиков и .  Затем при  -  и . В последнем, случае более точные результаты дает интенсивный пик , а измерение  теряет смысл (середина между пиками  и   отвечает значению длины волны , а не принятому в таблицах межплоскостных расстояний значению ).

 

На рентгенограммах могут наблюдаться наложения (перекрытие) пиков, соответствующих отражениям  от плоских сеток с близкими значениями . Частичное перекрытие пиков изменяет их положение в сторону сближения. Из наложенных пиков смещение минимально для более интенсивного пика (например, пик  в паре ), и им часто можно пренебречь, и максимально для слабого пика, положение которого измеряют по вершине с завышенной погрешностью.

Более строго положение пика определяют по его центру тяжести (рис.7). В рядовых исследованиях удовлетворительные результаты дает аппроксимация пика треугольником (рис.2,в), центр тяжести которого находится в точке пересечения его медиан. Для расчета межплоскостных расстояний по углам , соответствующим положению центра тяжести пика, используют значения  для центра тяжести спектральной линии, которые несколько отличаются от значений  использованных в таблицах. В рядовых исследованиях этим отличием можно пренебречь.

Точность определения положения пика зависит от режима его регистрации. При записи рентгенограммы на скорости движения счетчика 0,5 градус/мин и диаграммной ленты 1200 мм/ч легко достигается точность 0,01° (). Примерно с такой же погрешностью вводятся поправки  по внутреннему стандарту. В результате погрешность измерения положения пика составляет , что в случае отражений  с  > 140° соответствует достаточно высокой точности определения параметров ячейки (десятитысячные доли ангстрема).

Рис. 7.К определению положения максимума θmax (а), положения центра тяжести θс(б)

Точность определения положения пика зависит от режима его регистрации. При записи рентгенограммы на скорости движения счетчика 0,5 градус/мин и диаграммной ленты 1200 мм/ч легко достигается точность 0,01° (). Примерно с такой же погрешностью вводятся поправки  по внутреннему стандарту. В результате погрешность измерения положения пика составляет , что в случае отражений  с  > 140° соответствует достаточно высокой точности определения параметров ячейки (десятитысячные доли ангстрема).

Интенсивность пика оценивают по его высоте (пиковая интенсивность) или площади (интегральная интенсивность) (рис. 8). Определение интенсивности  линий по высоте осуществляется измерительной линейкой  в мм, отсчет ведется от уровня фона спектра. Интенсивность в импульсах считывается с интенсиметра.

Рис.8. Определение интегральной (а) и пиковой (б) интенсивности

Измерения интенсивности отражения по его высоте производят по его высоте лишь при идентификации фаз. При этом под пиком проводят плавную линию фона, от которой ведут измерение. В пределах одного пика линию фона можно считать прямой, а в большинстве случаев и горизонтальной (рис. 6).

Интенсивность самого яркого пика принимают за 100, интенсивность остальных пиков оценивают в долях от него. Следовательно, измеряют относительные интенсивности  в объективной шкале.

Хорошо окристаллизованный и однородный по параметрам решетки материал дает узкие высокие дифракционные пики, плохо окристаллизованный неоднородный материал - широкие и низкие. Следовательно, высота пика неточно отражает его интенсивность. Более строгим является измерение интенсивности пиков по их площади. Делают это с помощью планиметра, а если его нет, то по сетке, нанесенной на прозрачную пленку (удобная цена деления 1 мм по горизонтали и 10 мм по вертикали), или путем взвешивания вырезанных из ленты пиков.

Основным различием методов оценки интенсивности отражений на рентгенограммах, полученных  дифрактометрическим и фотографическим способами,  является не дробность шкалы (100 или 10), а необъективность фотографической шкалы, возникающая за счет задания двух пределов: верхнего - 10 и нижнего – 1. Например, если на дебаеграмме самый яркий рефлекс имеет истинную интенсивность 100, а самый слабый - 1, то по условию десятибалльной шкалы им приписывают интенсивность 10 и 1 балл соответственно, следовательно, искажают отношение интенсивностей в 10 раз. Искажение в каждом случае индивидуально, поэтому перевод интенсивностей из 10-балльной в 100-балльную шкалу может быть осуществлен лишь приближенно.

Если  - излучение не отфильтровано, необходимо выяснить, какие линии возникли за его счет. Для этого  используют то обстоятельство, что отношение синусов углов пары линий, полученных в результате отражения лучей с длинами волн  и  от одной и той же плоскости, равно отношению соответствующих длин волн  и. После промера рентгенограммы находят значения  каждой линии и умножают на отношение длин волн  .  Если на рентгенограмме имеется пара линий с углами   и , причем  и первая линия слабее второй, значит первая линия получена в результате отражения  - лучей. Если возникшая в результате отражения  - лучей линия слаба, то соответствующая  - линия на рентгенограмме не получиться.

Процедуру нахождения  - линий можно производить еще одним способом. Рассчитывают межплоскостные расстояния и по  -  и по  - длинам излучения. Затем сравнивают полученные  межплоскостные расстояния. Если в ряду значений межплоскостных расстояний, полученных при расчете по  - длине волны   обнаружатся такие же значения межплоскостных расстояний, как и в ряду значений, полученных на  - излучении, а интенсивность этих линий в два - три раза ниже, чем  в - ряду, значит этот максимум соответствует  - линии и его можно исключить из дальнейшего рассмотрения. Дальнейшая работа ведется только с   - линиями.

Этапы расчета рентгенограммы:

  1.  На рентгенограмме фиксируются и нумеруются все  линии, у которых отношение  интенсивности сигнала  к интенсивности фона больше 2.
  2.  Определяется в градусах  положение максимума интенсивности каждой линии. Например, положение в углах  максимума линии № 3 (рис.5) равно 20,55°. Положение пиков измеряют от ближайшего штриха-метки с точностью .      Штрихи - отметчики автоматически фиксируют на рентгенограмме   

значения брэгговских углов . Измерения необходимо производить аккуратно, так как большая величина  может привести к значительным ошибкам в конечном результате.

  1.  Интенсивность пика оценивают по его высоте (пиковая интенсивность) или площади (интегральная интенсивность) (рис. 7). Определение интенсивности  линий по высоте осуществляется измерительной линейкой  в мм, отсчет ведется от уровня фона спектра. Интенсивность в импульсах считывается с интенсиметра.
  •  По формуле (1) рассчитывают значения межплоскостных расстояний.

Результаты заносят в таблицу.  

Образец таблицы оформления экспериментальных результатов

Результаты расчета рентгенограммы

,град

,

град

Дифференцируя выражений (1) по d и θ при выбранном излучении, получим выражение для определения относительной погрешности

 

,          (2)

Для оценки относительной погрешности экспериментальных значений межплоскостных расстояний выполнить десятикратный промер положения любого отражения рентгенограммы, по методу Стьюдента найти среднеквадратичную погрешность измерения величины угла дифракции  и, используя полученную величину, построить  график зависимости величины   от угла. Значения для построения графика взять от 5 до 90 градусов с интервалом в 5 градусов. Проанализировать полученный график, определить до какого десятичного знака необходимо вести запись экспериментальных  значений в разных частях рентгенограммы. Определить область углов отражения, позволяющих получать величины  с минимальной погрешностью.

Контрольные вопросы

1.Какого размера кристаллиты должны быть в образце, чтобы можно было получать качественные спектры РФА?

  1.  Каким требованиям предъявляются к образцам для рентгеноструктурного фазового анализа?
  2.  Перечислить способы приготовления образов для получения рентгенограмм?
  3.  Что такое текстура? Как она проявляется на рентгенограммах?
  4.  Зачем производят вращение образца?
  5.  От чего зависит число линий на рентгенограмме?
  6.  Какова точность определения углового положения линий на спектре РФА?
  7.  От чего зависит погрешность определения межплоскостных расстояний?
  8.  Какая область углов является прецезионной?

Отчет по данной лабораторной работе должен соответствовать требованиям стандарта СТО ИрГТУ.027-2009, содержать

- титульный лист, оформленный  в соответствии с требованиями стандарта СТО ИрГТУ.027-2009,

- цели и задание выполненной работы,

- краткую теорию,

- описание исследуемого объекта,

- условия регистрации рентгенограммы,

- таблицу экспериментальных результатов,

- график оценки относительной погрешности измерения экспериментальных значений межплоскостных расстояний,

- ответы на контрольные вопросы (можно устно),

-  список использованной литературы

Отчет предоставляется в электронном виде.

Критерии оценки лабораторной  работы:

-качество подготовки к лабораторной работе –ответы на контрольные вопросы;

- формулировка целей и задач работы;

  •  полнота теоретического обоснования применяемого метода исследования; четкость структуры работы;
  •  самостоятельность, логичность изложения;
  •  достоверность полученных результатов;
  •  наличие выводов, сделанных самостоятельно.

Оценка осуществляется по 10-балльной системе.

При выполнении всех перечисленных требований –10 баллов

80 % - 8 баллов и т.д…Работа считается зачтенной при оценке не ниже 6 баллов.

Литература:

Практическая рентгеновская дифрактометрия : учеб. пособие / В. А. Лиопо, Г. А. Кузнецова, В. М. Калихман, В. В. Война. – Иркутск : Изд-во Иркут. гос. ун-та, 2010. – 159 с..

Лекции      


Рис.1. Приготовление порошкового препарата для фазового анализа на дифрактометре: 1 – порошок образца; 2 – стеклянный кружок; 3 – пластилин; 4 –
 кювета.                                                                                                                                      

б

в

а

1

2

4

3

а

б

Рис. 2. Приготовление порошкового препарата для измерения интенсивности максимумов на дифрактометре: а) без разбавителя;  б) с вазелином.

Рис. 3. Получение рентгенограммы плоского препарата по схеме Брэгга – Брентано.

а

б

a

I

б

I

в

I

Рис 4. Рентгендифракционный спектр: а – реальный спектр (штриховой линией показаны уровень фона и разделение наложенных линий на компоненты), б – штрих-диаграмма, в – модельное представление линий спектра в виде треугольных распределений.

Рис. 5. Фрагмент рентгенограммы поликристаллического образца

Рис.6. Фрагмент рентгенограммы аморфного объекта

Рис.5. Фрагмент рентгенограммы кристаллического объекта


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

79020. Проблема смысла и сущности техники 43 KB
  Проблема смысла и сущности техники. Сущность техники техника призвана усиливать органы и потенции человека в том числе и интеллектуальные. Узкий смысл понятия техники: под техникой понимается техническое устройство артефакт созданное человеком из элементов природы для решения конкретных культурных задач. Широкий смысл понятия техники: искусственный или организованный прием усиливающий улучшающий или облегчающий действие техника письма техника плавания техника вопросов и т.
79021. Роль техники в становлении классического математизированного и экспериментального естествознания 33.5 KB
  Роль техники в становлении классического математизированного и экспериментального естествознания. Дальнейшее усовершенствование техники упиралось в главное противоречие эпохи противоречие между сравнительно высоким уровнем достигнутых к этому времени технологических знаний и резким отставанием теоретического естествознания. Развитие философии и естествознания в эпоху Возрождения привело к глубокому кризису аристотелевской картины мира и поставило задачу выработки отражающей реальные свойства действительности физической концепции а...
79022. Проблема гуманизации и экологизации современной техники 34 KB
  Проблема гуманизации и экологизации современной техники. Узкий смысл понятия техники: под техникой понимается техническое устройство артефакт созданное человеком из элементов природы для решения конкретных культурных задач. Широкий смысл понятия техники: искусственный или организованный прием усиливающий улучшающий или облегчающий действие техника письма техника плавания техника вопросов и т. При изучении вопроса о последствия техники и технологии следует иметь в виду двойственный характер техники.
79023. Научная картина мира как предпосылочное знание 39.5 KB
  Научная картина мира ее исторические формы. Роль научной картины мира в определении перспектив научных исследований. С научной картиной мира связывают широкую панораму знаний о природе включающую в себя наиболее важные теории гипотезы и факты.
79024. Гносеологические, логические и семантические основания науки. Языки науки 28.5 KB
  Гносеологические логические и семантические основания науки. Языки науки. С предметом философии науки тесно связаны и ее функции. Представляется целесообразным выделить те из них которые способны формировать основания науки: гносеологические логические.
79025. Научные традиции и научные революции 28.5 KB
  Крутой поворот в подходе к изучению науки совершил американский историк физики Томас Кун в своей работе Структура научных революций которая появилась в 1962 году. Наука или точнее нормальная наука согласно Куну это сообщество учёных объединённых достаточно жёсткой программой которую Кун называет парадигмой и которая целиком определяет с его точки зрения деятельность каждого учёного. Именно парадигма как некое надличностное образование оказывается у Куна в центре внимания. Нормальная наука пишет Кун это исследование...
79026. Философские проблемы социально-гуманитарных наук 36.5 KB
  В то же время его деятельность в том числе познавательная обусловлена объектом познания идеей. Субъект оценивается как познающий ум субъект познания и как субъект действия ответственный за него. Отсюда следует специфика человеческого познания социального познания. Таким образом с одной стороны имеются общие закономерности познания а с другой его специфика хотя каждый вид познания имеет социальный характер.
79027. Наука и лженаука 32.5 KB
  Характерными отличительными чертами псевдонаучной теории являются: игнорирование или искажение фактов известных автору теории но противоречащих его построениям; нефальсифицируемость несоответствие критерию Поппера то есть невозможность поставить эксперимент хотя бы мысленный один из принципиально возможных результатов которого противоречил бы данной теории; отказ от попыток сверить теоретические выкладки с результатами наблюдений при наличии такой возможности замена проверок апелляциями к интуиции здравому смыслу или...