17648

Двопроменева інтерференція Інтерферометр Майкельсона

Доклад

Физика

Двопроменева інтерференція: Інтерферометр Майкельсона. Світло від протяжного джерела світла S потрапляє на плоско паралельну розділювальну пластинку P1 покриту напівпрозорим тонким шаром срібла або алюмінію. Ця пластинка частково пропускає частково відбиває світло

Украинкский

2013-07-05

46.26 KB

14 чел.

Двопроменева інтерференція: Інтерферометр Майкельсона.

Світло від протяжного джерела світла S потрапляє на плоско паралельну розділювальну пластинку P1, покриту напівпрозорим тонким шаром срібла або алюмінію. Ця пластинка частково пропускає, частково відбиває світло, розділяючи падаючий пучок на два взаємно перпендикулярних пучки. Перший пучок, пройшовши через пластинку P1, відбивається назад дзеркалом M1, а потім частинно відбивається від пластинки P1 в напрямку АО. Другий пучок, відбившись від покритої металом поверхні пластинки P1 прямує до дзеркала M2, відбивається від нього і знову проходить через пластинку P1 і дальше йде в напрямку АО, як і перший пучок. Таким чином, від одного і того ж джерела отримуємо два пучка однакової інтенсивності, що йдуть в зорову трубу, де і спостерігаються інтерференційні смуги. На шляху першого пучка променів ставиться пластинка Р2 тотожна із пластинкою P1. Вона компенсує різницю ходу між пучками, що виникає через те, що другий пучок перетинаєрозділювальну пластинку P1 три, а перший – тільки один раз. Оскільки скло володіє дисперсією, то без такої компенсації спостереження інтерференції в білому світлі було б неможливим.

                                        

Дзеркало М1 – нерухоме, а дзеркало М2 за допомогою мікрометричного гвинта може переміщатися строго паралельно самому собі. У великих інтерферометрах таке переміщення повинно відбуватись на десятки сантиметрів. Тому до механічної частини приладу вимагаються дуже високі вимоги. Дзеркала інтерферометра забезпечені також установочними гвинтами, що дозволяють надати їм правильного положення.

Нехай  - зображення поверхні дзеркала М1 у відбиваючій площині розділювальної пластинки P1. Тоді інтерференція буде проходити так само, як і в повітряному шарі між двома відбиваючими площинами М2 і . Різниця ходу між відбитими променями , де d – товщина шару, а  - кут падіння. На зображенні отримаємо інтерференційні кільця з центром в точці сходження променів, нормально відбитих від поверхонь М2 і . Цьому напрямку відповідає максимальна різниця ходу . Тому максимальний порядок інтерференції буде спостерігатися в центрі картини. Звідси слідує, що при збільшенні величини  повітряного проміжку полоси інтерференції будуть переміщатися в напрямку від центру. При збільшенні зазору  на  різниця ходу збільшиться на  так, що відбудеться зміщення на одну полосу (тобто на місце кожної світлої полоси стане така ж сусідня світла полоса). При зміні кута падіння на , різниця ходу зміниться на . Звідси видно, що полоси інтерференції будуть тим більшими, чим менше . При  вони стали б нескінченно широкими, тобто поле зору було б освітлене рівномірно.

При великих зазорах і високій монохроматичності світла з інтерферометром Майкельсона спостерігалась інтерференція дуже високого порядку (близько ). Якщо М2 і  близькі один до одного і утворюють повітряний клин то смуги інтерференції локалізуються або на поверхні клину, або поблизу неї. Це – смуги рівної товщини, що мають вигляд рівновіддалених прямих, паралельних ребру клина.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

70736. ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ЭВМ И СИСТЕМ 154.5 KB
  Устройство отображения описывается структурой данных типа HDC которая называется контекстом отображения. В этой структуре хранятся различные характеристики устройства отображения контекст устройства и набор инструментов для рисования выбранных в контекст по умолчанию.
70737. ПРАКТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ВЫЧИСЛЕНИЯ Z-ПРЕОБРАЗОВАНИЯ 1.22 MB
  Современные дискретные системы обработки сигналов широко используются в аппаратуре связи, медицине (томография и ультразвуковое обследование), экономике (анализе и прогнозирование состояния отраслей экономики)...
70743. Поверка технических приборов 72 KB
  Методом амперметра или вольтметра при номинальном токе поверяемого прибора измерить его сопротивление. Схема поверки амперметра. Расчёт основных погрешностей поверка амперметра. Показания проверяемого амперметра Iп мА Показания образцового амперметра...
70744. Исследование катушки со стальным сердечником 131.5 KB
  Цель работы: Исследование зависимости параметров и потерь в стали катушки от воздушного зазора и напряжения сети. Схема исследования катушки со стальным сердечником. Провести исследование катушки со стальным сердечником при постоянной величине напряжения...