17680

Порівняльна характеристика спектральних приладів

Доклад

Физика

Порівняльна характеристика спектральних приладів. Порівняльні характеристики різних спектральних приладів наведені в таблиці. m порядок інтеріеренції; N Повне число штрихів ґратки; G=; Дисперсійна ділянка; R Роздільна здатність спектрального приладу; с

Украинкский

2013-07-05

33.13 KB

5 чел.

Порівняльна характеристика спектральних приладів.

Порівняльні характеристики різних спектральних приладів наведені в таблиці.

 m- порядок інтеріеренції;

 N- Повне число штрихів ґратки;

 G=; Дисперсійна ділянка;

 R- Роздільна здатність спектрального приладу;

-  спектральное разрешающее расстояние;

Таблиця складена для 5000 .

Прилад

m

N

G,

R

Еталон Фабрі-Перо

2*

30

0.05

2*

0.0005

Інтерферометр Майкельсона

2

0.005

2*

0.0005

Ешелон Майкельсона

2*

20-40

0.05

4*

0.005

Дифракційна гратка

3

3*

2000

1000

Призма

0

Поперше що є що:

Дифракційна гратка – платівка з великою кількістю непрозорих штрихів.

Ешелон майкельсона – кілька десятків прозорих пластин однаковоё товщини які накладені одна на одну зі зміщенням що рівне їх товщині – утворюється щось подібне до сходів.

Еталон Фабрі-Перо – два напівпрозорих діелектричних дзеркала розділені прозорим прошарком.

Інтерферометр Майкельсона – два дзеркала розміщені під прямим кутом а між ними під кутом 45 градусів до кожного іще одне напівпрозоре дзеркало на яке і світять променем.

Дисперсійна призма – трикутна призма при заломленні в якій біле світло розпадаеться в спектр.

Дифракційна гратка має роздільну здатність, яка за величиною трохи менша від роздільної здатності багато променевих спектральних приладів. При цьому її незаперечною перевагою є велика дисперсійна ділянка.

Бататопроменевi інтерферометри використовуються при вивченні окремих спектральних ліній. Для розв’язку такої задачі буває достатньо, щоб дисперсійна ділянка була не меншою ширини цієї лінії. Отже нічого що вона не над велика.

 При дослідженні надтонкої структури атомних ліній найбільші можливості мають інтерферометри Фабрi- Перо. Ці можливості можна використати, якщо компоненти надтонкої структури спектральної лінії будуть вузькими. Останнє досягається у спеціальних джерелах світла, в яких випромінюють атомні пучки при їхній низькій концентрації.  Це необхідно для зменшення міжатомних взаємодій,  які викликають розширення спектральних ліній.

   Роздільна здатність приладу змінюється при зміні довжини хвилі. При збільшенні останньої роздільна здатність інтерференційних i дифракційних приладів збільшується. Інтерферометр Фабрi-Перо можна застосувати лише у тій ділянці спектра, де не поглинає скло або кварц. Це теж обмеження.

В приладах високої роздільної здатності мала дисперсійна ділянка і в цьому вони звісно програють дифракційній гратці або призмі. Не зважаючи на те що серед розглянутих приладів найбільш переваги має інтерферометр Фабрi-Перо, це не означає, що за його допомогою можна розв’язувати усі спектральні задачі найзручнішим способом. При дослідженнях, наприклад, складних i смугастих спектрів інтерферометр Фабрi-Перо стає безсилим.

 

І призма – Ії роздільна здатність менша ніж у інших приладів але з шириною дисперсійної ділянки взагалі проблем бути не може.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

50065. Дослідження дифракції Фраунгофера на одній щілині 1.37 MB
  Прилади і обладнання Гелій неоновий HeNе лазер типу ЛГ56 розсувна щілина екран з масштабною шкалою фотодіод механізм переміщення фотодіода пристрій для реєстрації електричного сигналу з фотодіода Опис установки Оптична схема установки для спостереження дифракції Фраунгофера від однієї щілини у світлі лазера наведена на рис. Результат дифракції у вигляді періодичного розподілу інтенсивності світла спостерігається на екрані 3 який розміщений на відстані l b2 від щілини 2 довжина хвилі випромінювання...
50066. Стройові та рикладні вправи 53.5 KB
  Упор - це положення в якому плечi вище точок опори. Упор присiвши Положення присiду з опорою руками в пiдлогу лiктi випрямленi долонi з пальцями нарiзно опираються в пiдлогу плечовi суглоби над кистями Упор стоячи на колiнях Положення при якому опорними мiсцями є гомiлки зi стопами та долонi; стегна i руки перпендикулярнi до пiдлоги тулуб горизонтально Упор на лiвому правому колiнi Положення при якому опорними мiсцями є двi долонi i лiва права гомiлка зi стопою iнша нога...
50067. Букинистическая литература и ее распространение на книжном рынке РФ и Приморья 350 KB
  Важнейшая историческая задача букинистической торговли увеличить во много раз обращение книги. В отношении книжных богатств которые находятся в личном пользовании это означает максимальное вовлечение книг в повторное обращение на букинистическом рынке.
50068. Вынужденные колебания в последовательном колебательном контуре 101.5 KB
  Цель работы: изучение явления резонанса в RLC- контуре, определение резонансной частоты и добротности контура. Приборы и принадлежности: генератор АНР-1002, вольтметр АВ1, стенд СЗ-ЭМ01, соединительные провода.
50069. Свободные (затухающие) колебания в последовательном RLC-контуре 116 KB
  Цель работы: наблюдение затухающих колебаний на экране осциллографа и экспериментальное определение характеристик колебаний и параметров контура. Краткие теоретические сведения: Уравнение свободных колебаний в последовательном RLC контуре рис.1 может быть получено из второго правила Кирхгофа: Uc UR = es где Окончательно уравнение принимает вид 1 где Решением уравнения 1 при малом затухании b2 wо2 является функция описываемая уравнением...
50070. Изучение сложения колебаний 145 KB
  Изучение сложения колебаний Цель: экспериментально исследовать явления происходящие при сложении колебаний. Сложение сонаправленных колебаний Рассмотрим два гармонических колебания совершаемые в одном направлении. Как видно из рисунка амплитуда результирующего колебания может быть легко найдена по теореме косинусов 1 а начальная фаза определяется соотношением 2 Картина колебаний является неизменной если их амплитуда не изменяется со временем. Из 1 видно что это возможно только в случае если частоты складываемых...
50071. Изготовление модели значка выпускника ИИС 78.5 KB
  В дальнейшем раскрывая это окно можно будет контролировать такие свойства создаваемых объектов как абрис заливка и пр. Вызовите свиток Outline Абрис с панели инструментов или через меню View Вид установите в нем толщину линии 0508 мм. Проконтролируйте единицу измерения толщины линии вызвав в свитке Outline Абрис окно Edit Изменить. Примените к малому ромбу абрис Deep Yellow толщиной 0254 мм и заливку цветом Bby blue.
50072. Определение момента инерции махового колеса методом колебаний 163 KB
  Момент инерции тела I относительно некоторой оси является мерой инертности тела при вращении его вокруг этой оси. Для материальной точки момент инерции равен произведению ее массы на квадрат расстояния до оси вращения...