19177

Основы теории спекания

Лекция

Энергетика

ЛЕКЦИЯ 12 Основы теории спекания Основой технологии получения керамического топлива для ядерных реакторов является спекание дисперсных порошков. Основная и важнейшая особенность дисперсного состояния заключается в том что значительная доля свободной энергии систе

Русский

2013-07-11

258.5 KB

24 чел.

ЛЕКЦИЯ 12

Основы теории спекания

Основой технологии получения керамического топлива для ядерных реакторов является спекание дисперсных порошков. Основная и важнейшая особенность дисперсного состояния заключается в том, что значительная доля свободной энергии системы сосредоточена в межфазных поверхностных слоях.

Избыток свободной энергии делает дисперсные системы термодинамически неустойчивыми. Для них характерны самопроизвольные процессы, снижающие этот избыток путем уменьшения дисперсности. При этом система, оставаясь неизменной по химическому составу, изменяет свои энергетические характеристики. К таким процессам относится спекание. С классической физико-химической точки зрения (“макроскопической”) спекание - это термически активируемый самопроизвольный или стимулируемый внешним воздействием переход системы контактирующих твердых частиц в термодинамически более устойчивое состояние за счет уменьшения свободной поверхностной энергии.

Искривление поверхности, капиллярное давление

Межфазные границы в дисперсных системах имеют, как правило, искривленную форму. Поэтому очень важно проследить характер изменений, происходящих в термодинамической системе при искривлении поверхности, ограничивающей ее.

Искривление поверхности изменяет свойства поверхностного слоя и приводит к так называемым капиллярным явлениям. Важнейшая особенность капиллярных явлений заключается в том, что давления в двух объемных фазах, разделенных искривленной поверхностью, оказываются различными в состоянии равновесия.

Для пояснения физического смысла этих явлений проведем качественное их рассмотрение на примере мыльного пузыря. Если в процессе выдувания пузыря открыть конец трубочки, то пузырь, находящийся на другом конце, начнет уменьшаться в размерах и втянется в трубку. Поскольку в этом обратном процессе воздух внутри пузыря сообщается с атмосферой, то для поддержания равновесного состояния давление изнутри должно быть больше внешнего. Если в этом опыте соединить трубку с манометром, то он зарегистрирует избыточное давление (Р) в объемной фазе газа с вогнутой стороны поверхности пузыря.

Найдем количественную зависимость между (Р) и кривизной поверхности. Рассмотрим две контактирующие фазы (1 и 2), разделенные искривленной поверхностью. В состоянии равновесия возможны вариации площади поверхности ds и объема dV без изменения числа молей dn в системе. Таким образом, в нашем случае dn=0.

В соответствии с уравнением Гельмгольца для рассматриваемой системы можно записать:

                                          ,                                (1)

где V1  и V2 — объемы двух фаз; Р1 и Р2 — давление;  — поверхностная энергия; S — площадь границы раздела фаз.

Исходя из очевидного равенства –dV1= dV2= dV, получаем:

                                                                    (2)

В рассматриваем случае dF = 0, так как система находится в равновесии.

Отсюда находим:

Предположим, что поверхность имеет сферическую форму, тогда:

                                                                                                           (3)

Выражение (3) называется уравнением Лапласа. В общем случае, для несферических поверхностей, уравнение Лапласа имеет следующий вид:

где R1, R2 — главные радиусы кривизны.

Разность P называют капиллярным или лапласовским давлением. Необходимо помнить, что независимо от агрегатного состояния фаз, давление со стороны вогнутой поверхности всегда больше, чем с выпуклой стороны.

Концентрация вакансий в кристалле

Свободная энергия кристалла, содержащего N атомов равна:

,

где Е0 — полная энергия кристалла; S — энтропия.

Предположим, что кристалл содержит n вакансий (пустые позиции в решетке). В этом случае, как известно из термодинамики, приращение энтропии пропорционально логарифму числа комбинаций в размещении n вакансий в N узлах решетки:

.

Используя приближенную формулу Стирлинга для факториала, получаем изменение свободной энергии кристалла, содержащего вакансии:

.

Наиболее вероятным состоянием системы является такое, при котором dF/dn = 0. Отсюда следует:

                                                      ,                                           (4)

Последнее означает, что наиболее вероятным состоянием кристалла является наличие некоторого количества вакансий, которое называют равновесной термодинамической концентрацией.

При наличии напряжений энергия, необходимая для образования вакансий уменьшается на величину , где — напряжение, — атомный объем. В этом случае концентрация вакансий в области действия напряжений равна:

.

Разложив экспоненту до второго члена, и заменив напряжение выражением (3), имеем:

                                               .                                                  (5)

Последнее означает, что вблизи искривленной поверхности концентрация вакансий возрастает обратно пропорционально ее кривизне.

Рис.1. Зерно под действием растягивающих напряжений

Рассмотрим образец с характерным размером d, к которому приложены растягивающие (сжимающие усилия). Расчетная схема представлена на рис.1. В области растягивающих напряжений энергия образования вакансий уменьшается на величину  , а в области сжимающих увеличивается на ту же величину. В таком случае между этими областями возникает градиент концентраций, равный:

При наличии градиента возникает поток вакансий от областей растяжения в область сжатия (поток атомов пойдет в противоположном направлении):

.

При увеличении (уменьшении) размера образца на одну атомную плоскость относительная деформация равна b/d. Переходя от относительной концентрации к содержанию вакансий в единице объема и, рассматривая область размером b, получим выражение для скорости пластической деформации :

                                              .                                                (6)

В последнем выражении Dv — коэффициент объемной диффузии, равный СD. Выражение получено с точностью до геометрического коэффициента А, учитывающего геометрию образца и диффузионный путь точечных дефектов. Важным следствием представленных выше соотношений является то, что вблизи искривленных поверхностей может установиться режим пластического течения, стремящийся  уменьшить эту кривизну. В реологии коэффициент в соотношении между скоростью пластического течения и напряжением называют вязкостью кристалла, так что = /.

Напряжения, действующие в области искривленных поверхностей, даются выражением (3). В таком случае скорость диффузионно-вязкого течения  можно записать:

.

Последнее означает, что скорость «заплывания» поры с уменьшением ее радиуса возрастает.

Начальная стадия спекания

После прессования таблетка представляет собой конгломерат из множества  частиц, контактирующих друг с другом по поверхности, линии или точке.

Рассмотрим задачу о слиянии двух сферических частиц радиусом R. После слияния образуется частица радиусом R0. Из равенства объемов частиц до и после спекания имеем:

.

Поверхность двух частиц равна 8R2, а поверхность частиц после слияния равна 422/3R. Отношение поверхностей до и после слияния частиц равно:

.

Таким образом,  при слиянии поверхность и энергия системы, уменьшаются. Это и является движущей силой процесса спекания. Геометрия спекающихся частиц показана на рис.2.

Рис.2. Геометрия контактирующих частиц

Механизмы, реализующие слияние частиц могут состоять в следующем:

  •  вязкое течение. Вследствие направленного движения атомов из объема крупинок к контактному перешейку увеличивается площадь контактного перешейка и сближаются центры крупинок;
  •  механизм объемной диффузии. Стоком избыточных вакансий, возникающих вблизи вогнутой поверхности перешейка, является выпуклая поверхность крупинок. В этом случае, в соответствии с направлением диффузионных потоков, рост площади контакта не сопровождается сближением центров;
  •  механизм объемной диффузии. Стоком избыточных вакансий является граница между крупинками  или дислокации, расположенные в объеме крупинок. Рост площади контакта в данном случае сопровождается сближением центров крупинок;
  •  механизм поверхностной диффузии. Перенос вещества осуществляется вследствие диффузии атомов по поверхности от выпуклых участков профиля поверхности контактирующих крупинок к вогнутым участкам. Рост контактного перешейка не сопровождается сближением центров;
  •  механизм переноса вещества через газовую фазу. Перенос вещества происходит под влиянием разности равновесных давлений пара вблизи вогнутых и выпуклых участков профиля контактирующих крупинок. Скорость процесса, не сопровождающегося сближением центров крупинок, определяется коэффициентом диффузии в газовой фазе;
  •  механизм граничной диффузии. Перенос вещества к перешейку осуществляется механизмом диффузии вдоль границы, разделяющей контактирующие крупинки. Процесс сопровождается сближением их центров.

Следует обратить внимание на то, что сближение центров при переносе, массы перечисленными непороговыми механизмами наблюдается лишь при условии, если сток перемещающихся атомов расположен в объеме соприкасающихся крупинок, а не на их поверхности.

Теоретический анализ некоторых представленных выше механизмов приводит к закономерностям, указанным в табл.1.

Таблица 1

Закономерности спекания на начальной стадии

Следует отметить, что не все механизмы слияния частиц приводят к объемной усадке.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

49978. Измерение параметров гармонического напряжения с помощью осциллографа 498 KB
  Измерение параметров гармонического напряжения с помощью осциллографа Цель работы Приобретение навыков измерения параметров гармонического напряжения с помощью осциллографа. Получение сведений о характеристиках и устройстве электронного осциллографа. Устройство принцип действия и основные характеристики электронного осциллографа.
49979. Изучение линейчатых спектров атомов 423.5 KB
  Согласно современной квантовой теории возможные значения энергии системы атомов полностью определяются ее внутренними свойствами: числом и свойствами атомов ядер и электронов в ней и характером взаимодействия между ними. Те значения энергии. которые могут быть реализованы в данной системе принято называть ее уровнями энергии. Совокупность всех возможных значений энергии или уровней энергии носит название энергетического спектра или спектра возможных значений энергии.
49980. Измерение и анализ спектров свечения газоразрядных ламп 184.5 KB
  Просматривая видимый диапазон 400 750 нм измерили длины волн всех спектральных линий лампы №1. Обработка результатов измерений Измеренные длины волн линий занесите в табл. Измерение длин волн спектральных линий. Используя данные о длинах волн спектральных линий атомов некоторых элементов из табл.
49981. Ознайомитись з явищем поляризації світла, експериментально перевірити закон Малюса і закон Брюстера 578 KB
  Прилади і обладнання Джерело світла поляризатор аналізатор набір скляних пластин чорне дзеркало прилад для вимірювання інтенсивності світла Опис установки Експериментальна лабораторна установка рис.1 дозволяє: отримати лінійно поляризоване світло за допомогою поляризатора; експериментально перевірити закон Малюса і закон Брюстера...
49982. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ГЛАВНОГО ФОКУСНОГО РАССТОЯНИЯ ТОНКИХ ЛИНЗ 266 KB
  Приборы и принадлежности: оптическая скамья с набором рейтеров осветитель с источником питания экран собирающая и рассеивающая линзы. Ее вершины О1 и О2 в этом случае можно считать совпадающими в точке О называемой оптическим центром линзы. Причем ось проходящая через оптический центр линзы и центры кривизны ее преломляющих поверхностей называется главной оптической осью линзы прямая РР рис. Если направить луч света параллельно главной оптической оси вблизи нее то преломившись он пройдет через точки F1 или F2 в зависимости от...
49983. ИССЛЕДОВАНИЕ ЯВЛЕНИЯ ДИСПЕРСИИ 472.5 KB
  В качестве диспергирующих элементов используются спектральные призмы действие которых основано на явлениях преломления и дисперсии света дисперсионные призмы. Ширина спектральной линии определяется дифракцией света на оправе призмы или на краях диафрагмы ограничивающей световой поток падающий на призму. Качество спектра определяется угловой дисперсией и разрешающей способностью призмы.
49984. ИССЛЕДОВАНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ СВЕТА ПРИ НАБЛЮДЕНИИ КОЛЕЦ НЬЮТОНА 747 KB
  Приборы и принадлежности: микроскоп МБС10 светофильтры источник белого света микрометр окулярный винтовой МОВ116Х или окуляр со шкалой объект микрометр ячейка для получения колец Ньютона блок питания для лампы осветителя. Оно окружено системой чередующихся светлых и темных колец ширина и интенсивность которых постепенно убывают по мере удаления от центрального пятна. Светлые кольца соответствуют d для которых...