19189

Элементный и структурный анализ в развитии современных технологий

Лекция

Производство и промышленные технологии

электронный конспект лекций Лекция 1 Элементный и структурный анализ в развитии современных технологий. Основные определения используемые в последующем изложении. Упругое рассеяние в лабораторной системе координат. Широкое внедрение тонкопленочных технологий ис...

Русский

2013-07-11

112 KB

1 чел.

электронный конспект лекций

Лекция 1

Элементный и структурный анализ в развитии современных технологий. Основные определения, используемые в последующем изложении. Упругое рассеяние в лабораторной системе координат.

Широкое внедрение тонкопленочных технологий, использование необычных, часто уникальных свойств поверхности твердого тела потребовало создания новых методов анализа вещества, позволяющих получать информацию об элементном составе и структуре образца с локальностью анализа до тысячных долей микрона и чувствительностью до 1013 атомов/см3. Такие высокие параметры в приборах элементного и структурного анализа удалось достичь за счет использования физических процессов на атомном уровне.

Круг используемых для элементного и структурного анализа физических процессов постоянно расширяется. Практически, каждый год появляются новые методики, общее число которых в настоящее время приближается к тысяче. Рассмотреть все методики и аппаратуру для их реализации в рамках данного курса – задача невыполнимая. Поэтому, будут рассмотрены основные методы анализа, получившие к настоящему времени наибольшее распространение в исследовательских и технологических лабораториях, и для реализации которых имеется промышленно выпускаемое оборудование. Для лучшего понимания возможностей методов и особенностей аппаратуры в первой части курса (7 семестр) рассмотрены физические процессы, лежащие в основе методик анализа, рассматриваемых во второй части курса (8 семестр), а также основные технические и конструктивные решения, используемые при создании соответствующей аппаратуры.

Для элементного и структурного анализа в большинстве случаев используются направленные потоки (пучки) частиц, создаваемые специальными источниками. Под частицами в дальнейшем будут пониматься как электроны, ионизованные атомы (ионы), нейтроны – корпускулярные потоки излучений, так и гамма-кванты (в том числе и рентгеновские). В рассматриваемых в данном курсе методиках, элементный и структурный анализ проводится по результатам взаимодействия потоков частиц с исследуемым образцом, поэтому необходимо ввести некоторые характеристики пучков частиц, которые будут использоваться в дальнейшем изложении.

Так как для анализа используются направленные потоки частиц, то соответствующая аппаратура обеспечивает распространение частиц вдоль некоторой линии (в общем случае она может быть и криволинейной), которая называется осью пучка. Как правило, пучок стремятся сформировать таким образом, чтобы его ось одновременно являлась и осью симметрии пучка.

Одной из важнейших характеристик пучка является плотность потока частиц – j, которая определяется как число частиц, проходящих в единицу времени через площадку единичной площади, расположенную перпендикулярно оси пучка. По мере перемещения вдоль оси пучка плотность потока будет меняться, т.к. получить строго параллельный пучок, в котором направлении вектора скорости всех частиц совпадает с осью пучка на практике невозможно. Поэтому в общем случае величина j будет функцией координат в плоскости перпендикулярной оси пучка неоднородный пучок и/или времени. В последнем случае зависимость может быть периодической импульсный источник частиц или апериодической – за счет временного дрейфа параметров стационарного источника частиц.

Единица измерения j в системе СИ - частиц/м2с, на практике более употребительной является единица измерения – частиц/см2с. Если речь идет о пучках однократно заряженных частиц, то в качестве единицы измерения обычно используется мкА/см2 либо Кл/см2с. Соотношение между этими единицами следующее:

мкА/с = 10-6 Кл/см2с = 6,251012 частиц/см2с

Сформировать строго параллельный пучок технически невозможно, поэтому для реальных пучков вводится понятие расходимость пучка предельный угол отклонения векторов скорости частиц в пучке от его оси. Единица измерения расходимости пучка – радиан (1 р = 57,3о). Расходимость пучка, как правило, определяется геометрическими размерами ограничивающих (коллимирующих) пучок диафрагм. В простейшем случае системы из двух диафрагм и аксиально-симметричного пучка угол расходимости легко определяется из геометрических соображений

В аппаратуре для элементного и структурного анализа расходимость пучка обычно стремятся сделать меньше 10-3 радиан (3,4 угловых минут).

Другой важнейшей характеристикой пучка является энергия частиц. В элементном и структурном анализе обычно используются потоки частиц фиксированной энергии. Такие пучки называются моноэнергетическими (иногда, по аналогии со световой оптикой монохроматическими). В качестве единицы измерения энергии используется внесистемная единица эВ, численно равная энергии, которую приобретает частица любой массы, несущая один элементарный заряд, пройдя разность потенциалов один вольт. Связь с другими единицами измерения следующая:

1 эВ = 1,610-19 Дж = 1,610-12 эрг

В соотношениях, включающих элементарный электрический заряд е удобнее пользоваться не системой СИ, а системой СГС (сантиметр, грамм, секунда) с энергией выраженной в эВ. Единица измерения заряда в системе СГС определяется из закона Кулона, который в системе СГС выглядит следующим образом

F = q1q2/r2, где q1 = q2 = 1 СГС.

Величина элементарного заряда в системе СГС е = 4,810-10 СГС.

Следовательно, 1 СГС содержит 1/4,810-10 = 2,08109 элементарных зарядов и

е2/(4,810-10)2 = 1 динасм2 = 1 эргсм = 0,6251012 эВсм.

Откуда получаем

е2 =14,410-8 эВсм = 14,4 эВÅ (1 Å = 10-8 см).

Необходимо иметь в виду, что хотя пучки и называются моноэнергетическими, но в действительности всегда существует разброс по энергиям у частиц пучка относительно некоторой средней величины, которая называется энергией пучка Е. Мерой разброса или степенью моноэнергетичности является отношение Е/E, где Е - модуль максимальной разности между величиной Е и энергиями, которые реально имеют частицы пучка. Разброс по энергиям определяется свойствами источника частиц; в некоторых методиках необходимы пучки с разбросом по энергиям не более 10-4.

Часто приходится иметь дело с немоноэнергетическими пучками, для которых важной характеристикой является энергетический спектр dN/dE  f(E), который может быть сложной функцией энергии.

Рассмотрим это определение с экспериментальной точки зрения. Пусть пучок частиц попадает в некоторый прибор, который производит подсчет количества частиц в интервалах энергии , заполняющих диапазон энергии от 0 до максимальной энергии частиц пучка. Тогда можно построить гистограмму распределения частиц пучка по энергиям, в которой площадь каждого прямоугольника, а при одинаковых и пропорциональная площади высота прямоугольника, равна числу отсчетов в данном интервале энергии за время измерения (стационарный пучок). Сумма площадей всех прямоугольников равна числу частиц N0 , попавших в анализатор за время измерения (предполагается, что анализатор обладает 100% эффективностью).

Возникает вопрос – какова должна быть величина ? Интуитивный ответ - чем меньше, тем лучше конечно правилен, но мало, что дает, кроме того сделав очень малой можно вообще не получить отсчетов при некоторых Е ввиду конечности величины N0 . Более правильный ответ - величина (иначе ее называют шириной энергетического окна энергоанализатора) должна быть меньше, чем ширина особенностей в энергетическом распределении. При этом, правда, приходится предположить, что мы априори до проведения измерений знаем, каков будет масштаб этих особенностей. Если мы уверены, что измеренный спектр удовлетворяет этому положению, то, перестроив гистограмму таким образом, что точке в середине каждого прямоугольника по оси Е ставится в соответствие величина dN/dE, численно равная высоте прямоугольника, мы получим набор точек в координатах Е и dN/dE, через которые проведем плавную кривую. Эта кривая и будет энергетическим спектром пучка частиц или иначе его энергетическим распределением. Количество частиц в пучке, имеющих энергию в диапазоне от Е1 до Е2, равно .

При взаимодействии потоков корпускулярных излучений с атомами образца часто имеют место процессы упругого рассеяния, при котором внутреннее состояние взаимодействующих частиц остается неизменным. В дальнейшем часто можно будет считать, что рассеяние движущейся со скоростью v0 (энергией Е0) частицы массой m1 происходит на неподвижной частице массой m2. В лабораторной системе координат (л.с.к.) после упругого рассеяния частица m1, отклонившись от первоначального направления движения на угол рассеяния , движется со скоростью v1 (энергией Е1), а первоначально покоящаяся частица m2 движется со скоростью v2 (энергией Е2) по направлению составляющему угол отдачи Ф относительно первоначального направления движения частицы m1.

Из законов сохранения энергии и импульса имеем следующую систему уравнений

где k и – кинематические факторы процесса упругого рассеяния, причем k + = 1.

Откуда, в частности, можно получить следующее квадратное уравнение

,   (1.1)

решение которого

,

где = m1/m2.

А также

.

Соответственно, для кинематических факторов получаем следующие выражения

(1.2)

Видно, что при фиксированном угле рассеяния кинематический фактор k может иметь два разных значения, отвечающих разным знакам перед квадратным корнем. Так как k + = 1, то тоже может принимать два значения. В соответствии с (1.2) это означает, что два значения должен принимать угол отдачи Ф.

Кроме того, при   1 (m1  m2) существует предельный угол рассеяния мак = arcsin(1/).

Двузначность k и Ф и, соответственно, Е1 и Е2 получена чисто математически, как следствие решения квадратного уравнения. Для того, чтобы понять физические причины появления подобной двузначности необходимо рассмотреть процесс упругого рассеяния в системе центра масс.


d
2

1

a

L


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

41642. ПОСТРОЕНИЕ МОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР С ПОМОЩЬЮ «Сhemcraft» 981.32 KB
  От пользователя лишь требуется задать имидж молекулярной структуры на экране с помощью удобных инструментов рисования. Для конструирования 3D структуры молекул на экране на первом шаге потребуется: выбор и задание атомов из которых состоит молекула; расстановка химических связей. Таблица 1 Режимы изображения образа молекулярной структуры Инструмент Режим Создание изображения Кнопка Drg toms выключена Режим Перемещение Кнопка Drg toms включена Левая кнопка мыши на атоме Выделить атом отменить выделение Показать...
41643. ИСПЫТАНИЕ ЛИСТОВОГО МЕТАЛЛА НА РАСТЯЖЕНИЕ 172.46 KB
  Примем следующие обозначения и соотношения: L полная длина образца мм b ширина образца мм h длина образца для зажима в машине мм l 0 начальная длина рабочей части мм b0 начальная ширина рабочей части мм 0 начальная толщина рабочей части мм F0 начальная площадь поперечного сечения рабочей части мм2 Lk конечная длина рабочей части мм bk конечная ширина рабочей части мм k конечная толщина рабочей части мм Fk площадь поперечного сечения образца в месте разрыва мм2 Для...
41644. Исследование цифровых фильтров с конечной импульсной характеристикой (КИХ-фильтров) 655.62 KB
  В окне схемного редактора собрать схему для исследования частотных характеристик трехзвенного цифрового КИХ фильтра рис. Для упрощения последующей модификации исследуемого фильтра коэффициенты умножителей и частоту дискретизации элементов задержки следует ввести как переменные например 0 1 2. Задать в разных графических окнах вывод следующих частотных характеристик с линейным масштабом по оси частот: Зависимости модуля коэффициента передачи фильтра от частоты Vout или MGVout; Зависимость фазы коэффициента передачи в градусах от...
41645. Инженерно-техническая защита систем обработки информации 44.26 KB
  Подсистема физической защиты информации ФЗИ включает силы и средства предотвращающие проникновение к источникам защищаемой информации злоумышленника и стихийных сил природы. Система обработки информации как объект защиты. СОИ совокупность некоторого объекта эксперимента как источник информации измерительновычислительного комплекса и персонала.
41646. Закон радиоактивного распада 224.24 KB
  Процесс альфараспада можно представить так: где Х символ исходного ядра; Y символ ядра продукта распада; Q излучаемый избыток энергии обычно в виде гаммакванта; А массовое число; Z порядковый номер элемента заряд ядра. Энергия освобождаемая при каждом акте распада распределяется равномерно между бетачастицей и нейтрино. Примером бетаминус распада может служить распад естественного изотопа калия с превращением его в кальций: .
41648. Изучение приборов для измерения давления. Тарировка пружинного манометра 577.06 KB
  Изучение приборов для измерения давления. В Международной системе единиц СИ единицей давления является паскаль Па. Используются также внесистемные единицы измерения давления: техническая атмосфера ат равная кгс см ; миллиметр водяного столба мм вод.
41649. Наблюдение роста кристаллов из раствора 339.58 KB
  Нагреть раствор. Перелить раствор в стакан. Привязать к карандашу нить чтобы она опустилась в раствор.
41650. Технологии работы со списками в EXCEL 1.79 MB
  Цель работы: научиться создавать при помощи EXCEL базу данных содержащую различные сведения о работе фирмы. Список выполняет функцию базы данных. Столбцы называются полями а строки записями множество записей образует поле данных. Требуется создать базу данных работы фирмы и автоматизировать работу выдачи бланков заказов.