19216

Вторичная электрон-электронная эмиссия. Отражение электронов от твердого тела

Лекция

Физика

Лекция № 12. Вторичная электронэлектронная эмиссия. Отражение электронов от твердого тела. Характеристические потери энергии. Закономерности истинной вторичной электронной эмиссии. Приведенная кривая. Эффективные эмиттеры вторичных электронов. XII. вторичная элек

Русский

2013-07-11

326 KB

45 чел.

Лекция № 12.

Вторичная электрон-электронная эмиссия. Отражение электронов от твердого тела. Характеристические потери энергии. Закономерности истинной вторичной электронной эмиссии. Приведенная кривая. Эффективные эмиттеры вторичных электронов.

XII. вторичная электрон-электронная эмиссия.

§ 12.1. Коэффициенты вторичной электрон-электронной эмисси.

Эмиссия электронов с поверхности твердого тела, бомбардируемой потоком электронов, называется вторичной электрон-электронной эмиссией. Вторичная электрон-электронная эмиссия была обнаружена Остином и Штарке в 1902г. Наиболее распространенная схема экспериментального исследования энергетического распределения вторичных электронов методом задерживающего поля с использованием сферического коллектора Лукирского и Прелижаева показана на рис. 12.1. Задерживающее поле прикладывается между мишенью и коллектором. Если потенциал коллектора будет больше, чем на мишени, то на коллектор придет полный ток вторичной электронной эмиссии Iee. Вторичная электронная эмиссия характеризуется количеством вторичных электронов на одну первичную частицу: e = Nee/Np.  Интегрально это количество равно отношению токов вторичных и первичных электронов Iee/Ip. Распространенным методом определения скоростей вторичных электронов является использование магнитного энергоанализатора с полукруговой траекторией радиуса  (рис.12.2), то есть через щель пройдут электроны, скорость которых равна . Полученное экспериментальное энергетическое распределение (рис. 12.3) независимо от материала и энергии первичных электронов содержит два высоких максимума. Первый в области малых энергий (< 50 эВ) соответствует истинным вторичным электронам, которые выходят из твердого тела за счет поглощения энергии первичных электронов. Далеко не все  электроны, получившие дополнительную энергию, добираются до поверхности, растрачивая энергию по пути на взаимодействие с ионами решетки и другими электронами. Преодолевшие потенциальный барьер истинные вторичные электроны на выходе имеют энергии, не зависящие от энергии первичных электронов. Работа выхода материала также не оказывает существенного влияния на эмиссию вторичных электронов, так как, во-первых, энергия первичных электронов,  как

правило, гораздо больше работы выхода, во-вторых, эмиссия происходит не из поверхностных слоев, а из глубины металла, поэтому более важным является потеря энергии

при движении электрона к поверхности. Второй, гораздо более узкий максимум находится в области высоких энергий и соответствует упруго отраженным первичным электронам, практически полностью сохранившим свою скорость после

отражения. Положение этого максимума соответствует энергии первичных электронов. Область энергий между этими двумя максимумами соответствует не упруго отраженным вторичным электронам. Таким образом, энергетический

спектр вторичных электронов состоит из широкого пика в области низких энергий, который принадлежит истинно-вторичным электронам, выходящим с глубины 5 - 100  от поверхности, и очень узкого пика отраженных от поверхности электронов  в области высоких энергий с максимумом при энергии, равной энергии первичных электронов. Для характеристики истинной электрон-электронной эмиссии вводят коэффициент вторичной электронной эмиссии e= Ns/Np , где Ns – число истинно вторичных электронов, Np - число первичных электронов, падающих на поверхность в единицу времени. Для характеристики эмиссии отраженных от поверхности первичных электронов используется  коэффициент отражения e = (Ne+Nu)/Np, где Ne и Nu - упруго и неупруго отраженные электроны. Полный коэффициент вторичной электронной эмиссии: . Коэффициент отражения вторичных электронов экспериментально можно определить, подавая на коллектор задерживающий потенциал, равный  , где граница в энергетическом распределении для упруго отраженных (рис.12.3): . Коэффициент неупругоотраженных электронов можно определить из соотношения: ;

Коэффициент истинно вторичных электронов:.

§ 12.2. Качественная теория электронной эмиссии металлов.

Зависимость коэффициента истинной вторичной электронной эмиссии от энергии первичных электронов.

Будем считать, что при движении внутри кристалла первичные электроны расходуют свою энергию главным образом на возбуждение и ионизацию атомов. Сечения

возбуждения и ионизации электронным ударом свободного атома нелинейны, имеют максимум для некоторой энергии и спад при больших энергиях, обусловленный тем, что с увеличением энергии уменьшается время взаимодействия (рис.12.4). Энергия первичных электронов, вызывающих вторичную электронную эмиссию, много больше энергии ионизации, поэтому можно считать, что потери энергии первичных

электронов обратно пропорциональны энергии: . Число вторичных электронов на глубине x пропорционально потерям энергии (рис.12.5): , где - средняя энергия, приходящаяся на создание одного электрона. Возникшие на глубине x вторичные электроны для выхода из

металла должны добраться до поверхности, взаимодействуя (сталкиваясь) со свободными электронами и ионами решетки кристалла. Количество вторичных электронов уменьшается с пройденным расстоянием эквипотенциально: . Действительно:

      . Таким образом,  количество электронов, дошедших до поверхности с глубины x, эквипотенциально уменьшается, тогда коэффициент истинно вторичной электронной эмиссии можно определить как количество вторичных электронов на 1 первичный:

, где  - безразмерная максимальная глубина проникновения первичных электронов с начальной энергией . Т.к. , то , следовательно,. Тогда: . Из этого соотношения можно экспериментально определить n по минимальной энергии , необходимой для проникновения через .

где:    , . Максимальное значение  при  находим из условия из условия .

. Получим так называемое уравнение приведенной кривой:

. Эта зависимость для разных n приведена на рис.12.6. Наличие максимума на энергетической зависимости коэффициента вторичной эмиссии объясняется тем, что глубина, на которую проникают первичные электроны, увеличивается с ростом их энергии (рис.12.7). Далеко не все  электроны, получившие дополнительную энергию, добираются до поверхности, растрачивая энергию по пути на взаимодействие с ионами решетки и другими электронами. С большой глубины вторичным электронам существенно труднее добраться до поверхности, поэтому коэффициент вторичной эмиссии уменьшается. Для различных материалов можно экспериментально определить  и (рис.12.8). Оказалось, что для любых материалов зависимость коэффициента истинной вторичной электронной эмиссии от энергии первичных электронов можно описать одной эмпирической формулой:

.

Положение максимума зависимости коэффициента вторичной электронной эмиссии для разных материалов представлено в таблице 12.1.

Таблица   12.1.

Al

Be

C (алмаз)

С (графит)

Cu

Fe

Mo

Ni

Ta

Ti

W

1.0

0.5

2.8

1.0

1.3

1.3

1.25

1.3

1.3

0.9

1.4

Em[эВ]

300

200

750

300

600

400

375

550

600

280

650

Экспериментально обнаружена зависимость максимального значения коэффициента истинной вторичной электрон-электронной эмиссии от работы выхода . Эта зависимость пока не нашла теоретического объяснения, но зависимость только от работы выхода  об отсутствии влияния поверхности. Соответственно с ростом атомного номера Z и работа выхода электрона из металла и  возрастают.

Преодолевшие потенциальный барьер истинные вторичные электроны на выходе имеют энергии, не зависящие от энергии первичных электронов. Работа выхода материала также не оказывает существенного влияния на эмиссию вторичных электронов, так как, во-первых, энергия первичных электронов,  как правило, гораздо больше работы выхода, во-вторых, эмиссия происходит не из поверхностных слоев, а из глубины металла, поэтому более важным является потеря энергии при движении электрона к поверхности. Использование в эксперименте энергоанализатора высокой разрешающей способности позволяет выявить ряд максимумов в энергетическом распределении истинно-вторичных электронов. Положение максимумов так же не зависит от энергии электронов и является характеристикой

материала мишени. Положение основного максимума  (рис. 12.9) зависит от Z (атомного номера), при , т.к. вторичным электронам сложнее выйти из глубины, и основной вклад дают электроны, получившие энергию вблизи поверхности.

Резонансность процессов не может быть объяснена изложенной выше качественной теорией, и нашла объяснение при рассмотрении Оже-процессов. Эмпирическая зависимость ,  где  - угол падения первичного электрона с нормалью, описывается косинусоидальным законом: .Степень  для углов . Рост коэффициента эмиссии с увеличением угла объясняется уменьшением глубины рождения вторичных электронов.

§ 12.3. Оже-электроны.

Первичный электрон, попадая в глубь металла, передает электрону заполненной зоны С (рис.12.10) энергию, достаточную для перехода последнего в зону проводимости.

В заполненной зоне С возникает вакансия, которая заполняется электроном из верхней заполненной зоны В. При этом выделяется энергия , которая передается какому либо электрону из зона проводимости. Этот электрон выходит из металла в вакуум как истинно-вторичный с энергией . Образовавшиеся

оже-электроны создают ряд максимумов в энергетическом распределении истинно-вторичных электронов (рис.12.9), положение которых соответствуют расстоянию между зонами и не зависит от энергии первичных, то есть, является характеристикой материала мишени. На этом основана возможность анализа состава поверхностного слоя металлов  и чистоту поверхности (оже-спектрометрия).

§ 12.4. Упругоотраженные электроны.

Коэффициент упруго отраженных вторичных электронов  определяется процессами отражения электрона как электромагнитной волны за счет рассеяния на отдельных атомах кристалла, дифракции и интерференции. В отличие от классической дифракции, разрешающей интерференцию рассеянных волн при выполнении условия Брэгга-Вульфа: , где - межатомное рассеяние, - угол падения,  -длина волны де-Бройля отражение происходит для любых и , т.к. из-за взаимодействия электрона с фононами, электронами проводимости, дефектами и т.д. когерентность нарушается.  Эмпирическая зависимость коэффициента отражения ee для нормального падения электронов от атомного номера материала мишени (рис. 12.12) и от энергии первичных

электронов (рис.12.13) и имеет вид: , где m(z)=0.1382–0.9211z-0.5, C(z)=0.1904–0.2236lnz+0.1292ln2z–0.01491ln3z. Зависимость e от угла падения ::.

§ 12.5. Неупругоотраженные электроны.

Неупруго отраженные электроны имеют непрерывный спектр от 50 эВ до энергий, соответствующих упруго отраженным (рис.12.3). Это объясняется тем, что их энергия зависит от потерь при выходе из металла. Эти потери носят вероятностный характер. Но на сплошном энергетическом спектре неупруго отраженных электронов вблизи пика упруго отраженных существуют несколько пиков так называемых характеристических пиков (рис.12.14). Есть несколько теорий, объясняющих характеристический максимум (характеристические потери). Одна связывает их с Оже процессом, другая – с возбуждением первичными электронами плазменных колебаний и взаимодействием

их с плазменными колебаниями. Электроны в металле и ионы в узлах кристаллической решетки образуют коллективную среду, которую можно назвать плазменной. В этой плазме, так же, как и в плазме газового разряда, возможно возбуждение плазменных

колебаний с частотой . Для плотности металла  плазменная частота получается . Колебания с такой частотой можно возбудить, если затратить энергию:, где

1eVДж. Такие колебания называют плазмонами.

Рис. 12.4. Зависимость сечения взаимодействия от энергии.

Характеристические потери

Неупругоотраженных электронов

Неупругоотраженные

электроны

Пик

упругоотраженных

электронов

50

0

, эВ

Истинные

вторичные

Ф (цилиндр Фарадея)

A

K

A

Рис. 12.1. Схема опыта по исследованию вторичной электрон-электронной эмиссии

K

K

A

e

e

A

A

e

Рис. 12.2. Схема опыта по исследованию вторичной электрон-электронной эмиссии

x

e

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

Рис. 12.11. Схема  оже-процесса

е

EMBED Equation.3  

Рис. 12.9. Энергетическое распределение истинно-вторичных электронов

0.5

0.3

0.1

EMBED Equation.3  [эВ]

60

20

20

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

10

30

Заполненная зона

Верхняя заполненная зона

е

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

А

е

е

EMBED Equation.3  

Зона проводимости

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  [кВ]

Рис. 12.10. Зависимость коэффициента истинной вторичной эмиссии от угла падения первичных электронов

2

1

EMBED Equation.3  [кэВ]

W

0.1

0.4

0.5

EMBED Equation.3  

Mo

C

5

10

Рис. 12.14. Характеристические пики.

Рис. 12.13. Зависимость коэффициента отражения от энергии первичных

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

Рис. 12.3. Распределение вторичных электронов по энергиям

Рис. 12.5. Траектория первичного электрона в толще материала

80

40

Рис. 12.8. Экспериментальная зависимость коэффициента истинной вторичной эмиссии

EMBED Equation.3  

Em

Z

EMBED Equation.DSMT4  

EMBED Equation.3  

5

50

EMBED Equation.3  

Рис. 12.7.Зависимость глубины проникновения электронов от их энергии

Рис. 12.12. Зависимость коэффициента отражения от атомного номера материала мишени

Рис. 12.6. Приведенные кривые.

EMBED Equation.3  

3

EMBED Equation.3  3

2

1

EMBED Equation.3  

EMBED Equation.3  

1


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

12363. Исследование характеристик продольного датчика Холла 266.5 KB
  Лабораторная работа № 14 Исследование характеристик продольного датчика Холла. 1. Цель работы: Изучение эффекта Холла. 2. Эффект Холла. Эффект Холла заключается в том что если пропустить через металлическую или полупроводниковую пластину рис.14.1. электрический то
12364. Вихревое электрическое поле 3.2 MB
  3 Лабораторная работа № 13 Вихревое электрическое поле 1. Цель работы. Изучение вихревого электрического поля при изменении магнитного поля в соленоиде. 2. Электромагнитная индукция. Вихревое электрическое поле. Явление электромагнитной индукции...
12365. Изучение явления магнитного гистерезиса 4.23 MB
  17 PAGE 16 Лабораторная работа № 12 Изучение явления магнитного гистерезиса 1. Цель работы. Проведение измерений цикла перемагничивания ферромагнетика. 2. Электронный осциллограф. Прибор предназначен для исследования быстропеременных периодичес
12366. Измерение магнитной проницаемости ферромагнетика индукционным методом 249 KB
  Лабораторная работа № 11 Измерение магнитной проницаемости ферромагнетика индукционным методом 1. Цель работы: Измерить магнитные проницаемости образцов стали и феррита индукционным методом. 2. Магнитные свойства вещества. Нейтральные молекулы и атомы веществ
12367. Измерение магнитного поля постоянного кольцевого магнита 226 KB
  Лабораторная работа № 10 Измерение магнитного поля постоянного кольцевого магнита 1. Цель работы. Измерить магнитное поле на оси постоянного кольцевого магнита и рассчитать его параметры. 2. Магнитные свойства вещества. Постоянные магниты. Нейтральные молекулы
12368. Магнитное поле Земли. Измерение горизонтальной составляющей магнитного поля Земли 141 KB
  Измерение горизонтальной составляющей магнитного поля Земли. Цель работы: измерение горизонтальной составляющей магнитного поля Земли. Магнитное поле Земли. Магнитное поле Земли подобно полю равномерно намагниченного шара. Полюса м
12369. Измерение магнитного поля на оси катушек Гельмгольца 247.5 KB
  Лабораторная работа № 8 Измерение магнитного поля на оси катушек Гельмгольца 1. Цель работы: измерение магнитного поля на оси катушек Гельмгольца индукционным методом. 2. Магнитные поля токовых систем. Магнитное поле постоянных токов изучалось Био и Саваром окон...
12370. Изучение магнитного поля на оси соленоида 280.5 KB
  Лабораторная работа № 7 Изучение магнитного поля на оси соленоида 1. Цель работы: экспериментальное исследование магнитного поля на оси соленоида. 2. Магнитные поля токовых систем. Магнитное поле постоянных токов изучалось Био и Саваром окончательная формулировк...
12371. Измерение магнитного поля прямолинейного проводника с током 228 KB
  Лабораторная работа № 6 Измерение магнитного поля прямолинейного проводника с током 1. Цель работы: экспериментальное исследование магнитного поля прямолинейного проводника с током индукционным методом. 2. Магнитные поля токовых систем. Магнитное поле постоян