19852

Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Схема ПЭМ

Лекция

Физика

Лекция 17 Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа ПЭМ. Схема ПЭМ. Все современные просвечивающие электронные микроскопы ПЭМ могут работать в двух режимах – в режиме изображения и в режиме дифракции. Ход лучей в этих режимах указан на рис. 17: а – режим ...

Русский

2013-07-18

1007 KB

70 чел.

Лекция 17

Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Схема ПЭМ.

Все современные просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ) могут работать в двух режимах – в режиме изображения и в режиме дифракции. Ход лучей в этих режимах указан на рис. 17: а – режим изображения; б – режим микродифракции.

Электронный пучок формируется в ускорительной колонне 1, состоящей из электронной пушки, секционной ускорительной трубки (обычно 6 секций) и системы отклонения. Энергия электронов на выходе ускорительной колонны, определяется величиной ускоряющего напряжения на электронной пушке и в различных типах ПЭМ может меняться в пределах 20-200 кэВ. Чем больше энергия электронов, тем меньше длина волны, тем больше проникающая способность электронов.

После ускорительной колонны установлена система конденсорных линз 2, назначение которой получить электронный пучок с минимальным угловым расхождением. Ускорительная колонна совместно с системой конденсорных линз позволяет получать электронные пучки разного диаметра. Минимальный диаметр электронного пучка в ПЭМ может составлять несколько нанометров, что позволяет получать дифракцию от локальной области такого же диаметра в режиме микролучевой дифракции. При работе в режиме изображений при помощи системы конденсорных линз получают параллельный пучок электронов. Система отклонения предназначена для электронного наклона пучка в режиме изображения и дифракции.

Ускорительная колонна и система конденсорных линз образуют осветитель.

За системой конденсорных линз расположена объективная линза. Держатель с образцом 3 устанавливается  в зазор полюсного наконечника объективной линзы, так чтобы образец находился в предполье объективной линзы. Гониометрическая головка позволяет осуществлять поворот образца относительно электронного пучка на угол ± 12º. Так как в просвечивающей электронной микроскопии изображение формируется электронами, прошедшими через образец, то его толщина должна быть много меньше длины пробега электронов в материале образца.

Пройдя через образец, электроны попадают в объективную линзу 4. Данная короткофокусная (несколько мм) линза, имеющая небольшое увеличение (~ 50), является ключевой в дальнейшем формировании изображения, поэтому она снабжена корректором астигматизма стигматором. Диафрагма объективной линзы расположена на задней фокальной плоскости объективной линзы. В последних моделях микроскопов изображения выводятся на монитор компьютера при помощи цифровых ПЗС камер.

В ПЭМ используются электромагнитные линзы, которые состоят из обмотки, магнитопровода и полюсного наконечника. Полюсный наконечник является концентратором магнитного поля. Полюсный наконечник имеет форму круговой симметрии. В центре имеется отверстие с некоторым радиусом и зазор между полюсами. В результате такой конструкции полюсного наконечника, магнитный поток сжимается в зазоре. Электроны, проходя через объективную линзу, под действием магнитного поля отклоняются в направлении оптической оси и фокусируются в определенной точке оптической оси (в фокусе линзы).

Стандартная вакуумная система ПЭМ приведена на рис. 17.2. Вакуум создается форвакуумным насосом роторного типа (РН) и двумя диффузионными насосами (ДН). Давление контролируется четырьмя тепловыми датчиками низкого вакуума (Р1-Р4) и одним ионизационным датчиком высокого вакуума Пеннинга (РЕ). В вакуумной системе применены электромагнитные и пневматические клапана (обозначены V). Вакуумная система должна обеспечить давление в колонне микроскопа не хуже 10-6 Тор.

Микроскоп может комплектоваться дополнительными устройствами для нагрева, охлаждения, растяжения образца.

Формирование электронно-микро-скопического изображения коротко можно описать следующим образом. Электронный пучок, сформированный осветительной системой, падает на объект и рассеивается. Далее, рассеянная волна объективной линзой преобразуется в изображение. Образованное объективной линзой изображение увеличивается промежуточными линзами и проецируется проекционной линзой либо на экран для наблюдения, либо на фотопластины или выводится на дисплей монитора.

Волновую функцию изображения в операторном виде можно записать в виде

и=F-1TFq0,

где 0-падающая волна.

Проходя через образец, 0 взаимодействует с потенциалом объекта. Электронная волна на нижней поверхности образца имеет вид q0, где q- функция прохождения. Рассеяние, дифракция волны q0 описывается действием оператора Фурье F. Следовательно, на задней фокальной плоскости объективной линзы электронная волна имеет вид Fq0, которая модифицируется передаточной функцией Т объективной линзы. Преобразование рассеянной волны в волновую функцию изображения описывается оператором обратного преобразования Фурье F-1. Тогда распределение интенсивности электронов на экране будет равняться I = ии*.

Механизм формирования контраста в электронной линзе такой же, как формирование контраста в геометрической оптике с оптическими линзами. На рис. 17.3 показан ход лучей при образовании дифракционного контраста. Диафрагма объективной линзы установлена так, что она пропускает только центральный пучок, а отраженные электроны не достигают конечного изображения. Изображение будет сформировано из центрального пучка и электронов, неупруго рассеянных под малыми углами. Изображение является однолучевым и оно, в этом случае, называется светлопольным. Полученный контраст обусловлен распределением интенсивности электронов, отраженных по закону Вульфа-Брэгга и поэтому получил название дифракционный контраст. При пропускании через диафрагму двух и более пучков (в том числе и центральный пучок), получаем многолучевое светлопольное изображение. На таких изображениях преобладает фазовый контраст.

Изображения можно получить, пропуская через диафрагму объективной линзы только дифрагированные пучки. Тогда полученные изображения называются темнопольными и они так же бывают однолучевыми и многолучевыми.

Электронный микроскоп является сложным электрофизическим устройством. Детали оптической системы изготовляются из специальных материалов с высокой точностью. Колонна микроскопа должна обладать высокой виброустойчивостью, питание линз и ускоряющее напряжение должны иметь высокую стабильность.

Основными характеристиками просвечивающего электронного микроскопа являются разрешение и максимальное ускоряющее напряжение. Различают два типа разрешения – разрешение по точкам и по линиям. Обычно ПЭМ имеет разрешение по точкам ~ 2,5 Å и разрешение по линиям ~ 1,5 Å.

На просвечивающие электронные микроскопы могут устанавливаться различные приставки-анализаторы. В этом случае электронный микроскоп называют аналитическим, и он обладает такими же возможностями, что и другие аналитические устройства.

Установка на ПЭМ рентгеновского энергодисперсионного анализатора позволяет определить элементный состав, а в сочетании со сканирующей приставкой – элементное картирование по площади с привязкой к структуре образца. Другим устройством для определения элементного состава, устанавливаемым на микроскопах, является анализатор потери энергии электронов.

Рис. 17.3 9

Рис. 17.2

Рис. 17.1


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

44288. Система работы по развитию слухового восприятия у слабослышащих старшеклассников на индивидуальных занятиях 1009.5 KB
  Анализ современной системы развития слухового восприятия слабослышащих детей.Задачи и значение работы по развитию восприятия речи на слух слабослышащими детьми Содержание работы по развитию восприятия речи на слух .
44290. Rомп'ютеризованf видавничу систему 882.5 KB
  Порівняльні характеристики деяких мікропроцесорів Процесори Характеристики Celeron D Pentium 4 Pentium 4 D Частота МГц 2533 3000 3200 Роз’єм LG775 LG775 LG775 Кешпам’ять 2 рівня Кб 256 2048 22048 Частота системної шини МГц 533 800 800 Ціна грн 383 1037 2408 Для робочих станцій оброблення текстової інформації РС1 РС2 не потрібний дуже потужний процесор тому згідно таблиці 2 ми обираємо найкращій варіант по співвідношенню: ціна – швидкодія. Найважливіші параметри окремих моделей дисплеїв деяких фірм з діагоналлю екрана 17’ Дисплей...
44292. Анализ правоприменительной практики, теоретических, правовых и организационных аспектов возбуждения уголовных дел 392.5 KB
  Понятие модели и значение стадии возбуждения уголовного дела. Понятие и сущность стадии возбуждения дела. Задачи и значение стадии возбуждения дела. Поводы основания и процессуальный порядок возбуждения уголовного дела.
44293. Технологический процесс технического обслуживания и ремонта раздаточной коробки передач 707.5 KB
  Технологический процесс технического обслуживания и ремонта раздаточной коробки передач.3 Производственная санитария и гигиена труда ЗАКЛЮЧЕНИЕ Письменная экзаменационная работа Техническое обслуживание и ремонт раздаточной коробки передач.
44294. ВДОСКОНАЛЕННЯ МЕХАНІЗМУ ТРАНСПОРТНО-ЛОГІСТИЧНОГО ОБСЛУГОВУВАННЯ МІЖНАРОДНИХ ВАНТАЖНИХ ПЕРЕВЕЗЕНЬ 1.62 MB
  Теоретичною та методологічною основою дипломної роботи являються наукові дослідження вітчизняних та зарубіжних вчених, присвячені удосконаленню транспортно-логістичного обслуговування та проблематиці впровадження логістичних структур у національну систему транспортно-логістичної інфраструктури
44295. Фреттинг-коррозия титановых сплавов 6.37 MB
  По своей коррозионной стойкости в морской воде он превосходит все металлы, за исключением благородных – золота, платины и т. п., большинство видов нержавеющей стали, никелевые, медные и другие сплавы. В воде, во многих агрессивных средах чистый титан не подвержен коррозии.
44296. Разработка Web- приложения «Такси«Люкс» 1.61 MB
  База данных представляет собой структурированную совокупность данных. Эти данные могут быть любыми-от простого списка предстоящих покупок до перечня экспонатов картинной галереи или огромного количества информации в корпоративной сети