23054

Базовий елемент транзисторно-транзисторної логіки (ТТЛ)

Лабораторная работа

Коммуникация, связь, радиоэлектроника и цифровые приборы

Насправді опором навантаження для виходу ТТЛсхеми звичайно є вхідний опір наступної ТТЛсхеми. Оскільки у реальних ситуаціях на один вихід треба підєднувати досить багато входів важливим є такий параметр схеми як навантажувальна здатність тобто максимальна кількість входів яку можна навантажити на вихід без втрати працездатності схеми. Оскільки транзистори в даній схемі працюють у режимах насичення та відсікання має місце досит значна інерційність схеми потрібен певний час для переведення транзисторів з одного граничного стану в...

Украинкский

2013-08-03

1016 KB

2 чел.

Лабораторна робота № 4

з курсу "Схемотехніка"

Базовий елемент транзисторно-транзисторної логіки (ТТЛ).

 На рис. 1 зображено еквівалентну схему базового елемента 2І-НЕ ТТЛ. Оскільки бібліотеки Design Center не містять моделі багатоемітерного транзистора, замість нього у цій схемі застосовано паралельне сполучення звичайних біполярних транзисторів Q1 та Q2.

рис. 1

Як джерело сталої напруги живлення V3 застосовується стандартна модель VDC, що міститься у бібліотеці source.slb. Основним є її параметр: DC - стала напруга, що її виробляє дане джерело.

Джерела вхідних сигналів V1 та V2 генерують прямокутні імпульси і описуються стандартною моделлю VPULSE, що також міститься у бібліотеці source.slb. Перелічимо основні параметри цієї моделі: DC та АС - те ж саме, що й для будь-яких джерел. v1 та v2 - перший та другий рівні напруги в прямокутному імпульсі, td - затримка першого перепаду від v1 до v2 відносно моменту часу t=0, tr та tf - відповідно тривалості переднього та заднього фронтів імпульса, pw - тривалість частини імпульса, коли v=v2, per - період повторення імпульсів.

Опір навантаження Rn у наведеній вище схемі має досить велике значення (1 кОм). Насправді опором навантаження для виходу ТТЛ-схеми звичайно є вхідний опір наступної ТТЛ-схеми. Оскільки у реальних ситуаціях на один вихід треба підєднувати досить багато входів, важливим є такий параметр схеми, як навантажувальна здатність, тобто максимальна кількість входів, яку можна навантажити на вихід без втрати працездатності схеми.

Оскільки транзистори в даній схемі працюють у режимах насичення та відсікання, має місце досит значна інерційність схеми (потрібен певний час для переведення транзисторів з одного граничного стану в інший). Цим обумовлено наявність часу затримки, яким і визначається швидкодія схеми.

Лабораторне завдання

1. Введіть у Schematics еквівалентну схему базового елемента 2І-НЕ ТТЛ (рис.1).  Вважайте, що напруга живлення дорівнює 5 В, амплітуда вхідних імпульсів  3(4) В, тривалість цього імпульсу 500(1000) мкс, його період  1000(2000) мкс. Тривалості фронту і спаду імпульсу задайте дуже малими, наприклад по 0.1 нс.  Затримка першого фронту 500(1000) мкс. Усі дані наведено для джерела V1(V2).  

2. Задайте завдання на моделювання перехідного процесу і проведіть його. У Probe виведіть графік залежності вхідних та вихідної напруг від часу та поясніть, чому такi залежності відповідають саме логія=чній функції І-НЕ.

3. Знайдіть значення амплітуди вхідних імпульсів Vгр1., коли схема перестає перемикатися.

4. Поверніть амплітуду вхідних імпульсів до значення 4 В і знайдіть значення амплітуди мнімумів вхідних імпульсів Vгр2., коли схема перестає перемикатися.

5. Зменшіть у 3 рази значення опору навантаження Rn. Поясніть зміни у амплітуді вихідного імпульсу. Зменшуйте опір навантаження до такого значення Rmin, коли амплітуда імпульсу на виході стане рівною Vгр1.

6. Визначте вхідний опір схеми. Для цього виведіть у Probe графік залежності від часу відношення напруги на одному з входів до вхідного струму (струму емітера транзистора Q1 або Q2 - IE(Q1), IE(Q2) ) 

7. Вважаючи, що навантаження кількох входів на один вихід еквівалентне підєднанню до цього виходу паралельного зєднання відповідних вхідних опорів, оцініть навантажувальну здатність схеми як кількість підєднаних виходів, за якої амплітуда вихідної напруги досягає Vгр1.

8. Зменшуйте тривалість і період вхідних імпульсів у 10 разів, доки на графіках у Probe не стане помітною затримка на даному логічному елементі. Визначте час затримки схеми. 


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

76355. Индикаторные и экспресс - методы контроля 262 KB
  Краткая характеристика экспресс методов контроля: стилоскопирование измерение твёрдости травление поверхностей. Целью Эконтроля является обнаружение и определение координат источников сигналов акустической эмиссии связанных с поверхностными или внутренними дефектами исследуеиого объекта рис.2 приведена схема контроля стыкового сварного соединения.
76356. Неразрушающий контроль оборудования АЭС 138 KB
  Контроль сварных соединений оборудования АЭС. ПНАЭГ703191 УЗК Унифицированные методики контроля основных материалов полуфабрикатов сварных соединений и наплавки оборудования и трубопроводов АЭУ Часть 3 ПНАЭ Г703291 УЗК Унифицированные методики контроля основных материалов полуфабрикатов сварных соединений и наплавки оборудования и трубопроводов АЭУ Часть 4 ПНАЭ Г703091 УЗК Унифицированные методики контроля основных материалов полуфабрикатов сварных соединений и наплавки оборудования и трубопроводов АЭУ Часть 2 продолжение...
76357. Разрушающий контроль при изготовлении оборудования АЭС 236 KB
  Неразрушающий контроль оборудования АЭС окончание. Разрушающий контроль при изготовлении оборудования АЭС начало. Контроль сварных соединений оборудования АЭС. Таблицы контроля качества устанавливают необходимость выполнения конкретных контрольных операций.
76359. Ультразвуковой контроль - дефектоскопия и толщинометрия 166.5 KB
  Сущность эхо-импульсного метода УЗК. Ввод и приём УЗ колебаний, мёртвые зоны и способы их сокращение. Эталонирование чувствительности УЗК. Основные этапы разработки методики производственного УЗ контроля. Расшифровка и представление результатов УЗК.
76360. Качество продукции и технический контроль 24.15 KB
  Качество продукции и технический контроль. Качество продукции и технический контроль. Основные понятия относящиеся к качеству продукции. Основные понятия относящиеся к качеству продукции определяются стандартами...
76361. Неразрушающий контроль (НК) и аттестация изделий 61.4 KB
  Диаграмма испытаний график зависимости нагрузки от абсолютной деформации образца. Начальная расчетная длина образца lo участок рабочей длины образца между нанесенными метками до испытания на которое определяется удлинение. Напряжение течения σ напряжение превышающее предел текучести определяемое отношением нагрузки к действительной для данного момента испытаний площади поперечного сечения образца при равномерном деформировании. Предел прочности σв напряжение соответствующее наибольшей нагрузке предшествующей разрыву образца.
76362. Задачи визуального и измерительного контроля (ВИК) 369.73 KB
  Способность правильно различать основные цвета называется нормальной трихромазией. Минимальный ахроматический интервал у красного цвета что несмотря на плохую чувствительность глаза в той области является одной из причин использования красного цвета для сигналов опасности или запрета. Цветоведение колористика наука о цвете включающая знания о физической природе цвета и его основных характеристиках ахроматических и хроматических цветах дополнительных и контрастных цветах колорите и цветовой гармонии.Все цвета по своим физическим...
76363. Оптические средства, измерительный контроль 831 KB
  Основным параметром любого оптического прибора является увеличение кратность Г отношение углового размера изображения малого предмета видимого через наблюдательный прибор к угловому размеру самого предмета видимого невооруженным глазом. Угол под которым глаз наблюдателя видит изображение предмета образованное оптической системой наблюдательного прибора;α2 угол под которым предмет виден невооруженным глазом. Зная...