36387

Универсальные CADCAMCAE-системы

Доклад

Коммуникация, связь, радиоэлектроника и цифровые приборы

Универсальные CDCMCEсистемы. Системы проектирования в масштабах предприятия за рубежом принято определять как CD CM CE – системы функции автоматизированного проектирования распределяются в них следующим образом: модули CD Computer ided Design – для геометрического моделирования и машинной графики модули подсистемы CM Computer ided Mnufcturing – для технологической подготовки производства а модули CE Computer ided Engineering – для инженерных расчетов и анализа с целью поверки проектных решений. Все универсальные CD CM CE –...

Русский

2013-09-21

12.71 KB

5 чел.

Вопрос 10. Универсальные CADCAMCAE-системы.

Системы проектирования в масштабах предприятия за рубежом принято определять как CAD/CAM/CAE – системы, функции автоматизированного проектирования распределяются в них следующим образом: модули CAD (Computer Aided Design) – для геометрического моделирования и машинной графики, модули подсистемы CAM (Computer Aided Manufacturing) – для технологической подготовки производства, а модули  CAE (Computer Aided Engineering) – для инженерных расчетов и анализа с целью поверки проектных решений.   Таким образом, современная система CAD/CAM/CAE способна обеспечить автоматизированную поддержку работ инженеров и специалистов на всех стадиях цикла проектирования и изготовления новой продукции.

Все универсальные CAD/CAM/CAE – системы содержат три обязательные категории подсистем:

Пакеты программ для графического ядра системы. Типичными представителями программ этой категории могут служить ACIS (Spatial Technology) и Concept Modeller, реализующие твердотельную вариационную геометрию при создании геометрических моделей.

Пакеты для  всестороннего анализа и оценки функциональных и эксплуатационных свойств с помощью методов моделирования на различных уровнях физического представления проектируемых объектов. Их использование позволяет почти полностью отказаться от дорогостоящего изготовления прототипов проектируемых изделий и их натуральных испытаний. В зависимости от  типа проектируемых изделий, технологии их изготовления, системы подразделяют на универсальные и специализированные. К числу универсальных относятся NASTRAN, NISA 2, ANSUS, к числу специализированных CAE- систем –пакеты SIMTEC  и MAG-MAsoft  (моделирование процессов отвердевания металлических отливок) MoldFlow (процессы литья пластмасс) и др.

Системы для подготовки управляющих программ станков и технологического оборудования с ЧПУ. Как правило, они имеют собственный достаточно развитый графический редактор, позволяющий на основе чертежа детали создать её геометрическую модель, которая затем используется для генерации управляющей программы систем ЧПУ. Наиболее известными пакетами являются SMART-CAM, CIM CAD, Cimplex, EUCLID, “Спрут” и др.                      


Данной работой Вы можете всегда поделиться с другими людьми, они вам буду только благодарны!!!
Кнопки "поделиться работой":

 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

42526. Определение длины электромагнитной волны в двухпроводной линии 96 KB
  Исследование электромагнитных волн в пространстве связано с некоторыми экспериментальными трудностями поэтому Лехером была предложена система состоящая из двухпроводной линии источника и приёмника электромагнитных волн. В двухпроводной линии реализуются два различных процесса передачи электромагнитного поля: с помощью токов проводимости и с помощью токов смещения. В этом случае электрические явления существенно зависят от сопротивления линии и следовательно от материала проводников.
42527. Определение ЭДС источника тока с помощью двух вольтметров 76.5 KB
  Оборудование: источник ЭДС постоянного тока два вольтметра. Физическая величина равная работе Астор сторонних сил по перемещению единичного положительного заряда вдоль всей замкнутой электрической цепи называется электродвижущей силой ЭДС 29.6 рассчитать ЭДС источника.
42528. ИЗУЧЕНИЕ РАБОТЫ ЭЛЕКТРОННОГО ОСЦИЛЛОГРАФА 353.5 KB
  Эти процессы графически изображаются на экране электронно-лучевой трубки ЭЛТ которая является основным органом электронного осциллографа. Наблюдение изображения на экране осциллографа называется осциллографированием. Изображение на экране или его фотография называется осциллограммой. Подводя отрицательный потенциал к цилиндру можно уменьшить количество электронов проходящих через его отверстие а следовательно уменьшить и яркость пятна на экране трубки.
42529. Ток в вакууме. Методическое указание к выполнению лабораторной работы 712 KB
  Условие вылета электрона из металла: 4 Термоэлектронная эмиссия лежит в основе получения электрического тока в вакууме и устройства вакуумных электронных ламп. Если же катод К соединённый с отрицательным полюсом анодной батареи Ба раскалить при помощи добавочной батареи накала Бнак до высокой температуры то миллиамперметр...
42530. ОПРЕДЕЛЕНИЕ УДЕЛЬНОГО ЗАРЯДА ЭЛЕКТРОНА МЕТОДОМ МАГНЕТРОНА 306.5 KB
  Энергия которую приобретает электрон при движении в электрическом поле с разностью потенциалов будет равна: 1 При включении тока в соленоиде его магнитное поле начинает действовать на электроны и отклонять их перпендикулярно к направлению вектора скорости электронов в каждый данный момент времени. Значение индукции и соответствующее ему значение тока...
42531. ИССЛЕДОВАНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ СВЕТА НА УСТАНОВКЕ С БИПРИЗМОЙ ФРЕНЕЛЯ 744.5 KB
  Бипризмы Френеля.1 показано что параллельно вершине бипризмы на расстоянии А от неё располагается щелевой источник света. Однако отклонения лучей на двух наклонных гранях бипризмы происходят в противоположных направлениях. В этой области выполняются все условия для интерференции и здесь в любой плоскости параллельной основанию бипризмы можно наблюдать интерференционную картину.
42532. ИЗУЧЕНИЕ ЯВЛЕНИЯ ДИФРАКЦИИ СВЕТА 583.5 KB
  Величина d= а b называется постоянной или периодом дифракционной решётки. Важной характеристикой дифракционной решётки является густота штриховки n число штрихов на единице длины решётки: n = 1 d м1 10 ...
42534. ИССЛЕДОВАНИЕ КАЧЕНИЯ СТАЛЬНЫХ ШАРОВ 274.5 KB
  Сцепление и сопротивление при качении тел по твёрдым поверхностям.Уравнения динамики и энергетического баланса при качении тел по наклонным поверхностям. Исследование столкновения стальных шариков при качении. Изучение законов динамики при качении тел по наклонным поверхностям; 2.