37752

Исследование интерференционного светофильтра

Лабораторная работа

Коммуникация, связь, радиоэлектроника и цифровые приборы

Зеркала полупрозрачны так что часть света отражается от них R – коэффициент отражения часть поглощается А – коэффициент поглощения а часть проходит Т – коэффициент пропускания. Основные характеристики ИФ: mx – длина волны в максимального пропускания Tmx – максимальный коэффициент пропускания Tmin – минимальный коэффициент пропускания 05 – спектральная полуширина – ширина полосы на уровне 05Tmx 2 – угловая ширина светового пучка К – контраст – отношение максимального и минимального коэффициетов пропускания Т R А = 1 – для...

Русский

2013-09-25

402 KB

32 чел.

Санкт-Петербургский Государственный Университет Информационных Технологий, Механики и Оптики

Кафедра: физической оптики и спектроскопии

Лабораторная работа №10

Исследование интерференционного светофильтра

Студентка: Шатилова К.В.

Группа: 2222

Преподаватель: Красавцев В. М.


Цель работы:
научиться определять основные характеристики интерференционного светофильтра и практически применять его в работе.

Теоретическая часть:

Принцип работы интерферометра Фабри-Перо.

S1, S2 – стеклянные пластины, несущие зеркала

n-показатель преломления промежуточного слоя

h-расстояние между пластинами

j-угол падения излучения

L - линза

Э – экран

Действие интерференционного светофильтра Фабри-Перо основано на многолучевой интерференции.

Воздушный (в л/р: диэлектрик MgF2) промежуток толщиной h ограничен стеклянными пластинами (S1, S2), несущими зеркала (в л/р: высокоотражающие металлические покрытия Ag). Зеркала полупрозрачны, так что часть света отражается от них (R – коэффициент отражения), часть поглощается (А – коэффициент поглощения), а часть проходит (Т – коэффициент пропускания).

В интерферометре Фабри-Перо за эталоном (системой параллельных пластин) располагается линза, которая строит изображение источника на поверхности экрана. Если на пластину эталона падает свет под всевозможными углами к ее плоскости, то на выходе создаются кольца равного наклона.

Основные характеристики ИФ:

max – длина волны в максимального пропускания

Tmax – максимальный коэффициент пропускания

Tmin – минимальный коэффициент пропускания

0,5 – спектральная полуширина – ширина полосы на уровне 0,5Tmax

2 – угловая ширина светового пучка

К – контраст – отношение максимального и минимального коэффициетов пропускания

Т + R + А = 1 – для зеркал    

R – коэффициент отражения, А – коэффициент поглощения, Т – коэффициент пропускания.

Для слоя между пластинами, примем пропускание Т1. Коэффициент пропускания ИФ:

Т = I/I0 = T2T1/((1-T1R)2 + 4T1Rsin2(/2)) I = I0T2T1/((1-T1R)2 + 4T1Rsin2(/2))

где  I и I0 – интенсивность прошедшего и падающего излучения.

       – разность фаз между интерферируемыми лучами

Основные параметры ИФ:

Максимальное пропускание:

При /2 = m, m = 1, 2, 3 …  sin2(/2) = 0

Tmax = T2T1/(1-T1R)2

Пусть T1 = 1 и Т + R + А = 1 1 – R = A + T Tmax = T2/(A + T)2 = 1/(1 + A/T) 2

Минимальное пропускание:

/2 = (2m+1) 

Tmax = T2/(1+R)2


Положение максимумов:

max = 2hn cosj2/(m - /),

где 2hn cosj2 = – разность хода; h – толщина; n – показатель преломления               промежуточного слоя; j2 –угол преломления

     m – порядок интерференционного максимума

      – скачек фазы при отражении

Ширина полосы пропускания:

0,5 – ширина полосы на уровне 0,5Tmax 

Полуширина 0,5 – функция коэффициента отражения:

0,5 = 2max /mF, где F = 2R/(1 - R) – фактор резкости

Схема установки:

1 – стабилизатор напряжения

2 – трансформатор

3 – источник сплошного спектра (лампа К-10)

4 – конденсор

5 – поляризатор

6 – интерференционный светофильтр

7 – угломерное устройство

8 – конденсор

9 – монохроматор

10 – фотоприемник

11 – регистрирующее устройство


Таблицы измерений и расчеты:

Коэффициент пропускания ИФ рассчитывается по формуле: T = n / n0 

Где n –прошедший поток излучения

                   n0 – падающий поток излучения

Таблица №1 (j=0о)   Таблица №2 (j=20о)    Таблица №3 (j=45о)

(нм)

n0

n

T

(нм)

n0

n

T

(нм)

n0

n

T

460

500

5

0,010

460

500

6

0,012

460

500

23

0,046

470

600

6

0,010

480

500

8

0,016

470

600

42

0,089

480

600

6

0,010

500

600

12

0,020

480

600

50

0,083

490

600

7

0,012

522

600

25

0,042

486

600

58

0,097

500

600

8

0,013

543

600

86

0,143

490

600

60

0,100

510

600

10

0,017

560

600

78

0,130

496

600

54

0,090

522

600

10

0,017

580

600

48

0,080

500

600

54

0,090

531

600

10

0,017

600

600

10

0,017

522

600

47

0,078

539

600

12

0,020

620

600

5

0,008

543

600

8

0,013

551

600

14

0,023

640

600

3

0,005

560

600

6

0,010

560

600

80

0,133

660

600

3

0,005

576

600

3

0,005

572

600

96

0,160

603

600

3

0,005

576

600

98

0,163

590

600

71

0,118

603

600

36

0,060

611

600

13

0,022

620

600

8

0,013

630

600

6

0,010

640

600

4

0,007

650

600

3

0,005

660

600

3

0,005

Используя результаты опытов, находим максимальный и минимальный коэффициенты пропускания ИФ и (при помощи графика) величину спектральной полуширины 0,5

  1.  при j=0о : Tmax = 0,163; Tmin=0,005; max= 576 нм; 0,5= 40 нм
  2.  при j=20о : Тmax = 0,143; Тmin=0,005; max= 543 нм; 0,5= 56 нм
  3.  при j=45о : Тmax = 0,100; Тmin=0,005; max= 490 нм; 0,5= 62 нм

Расчет погрешности: для j=0о

Т = n/n + n0/ n0 + 2

n = n0 = 5 делений; 2 = 7 %

Тmax = 5/98 + 5/600 + 0,07 = 0,051 + 0,008 + 0,07 = 0,129 = 13%


Вывод:
В ходе лабораторной работы исследовали основные характеристики интерференционного светофильтра. По результатам измерений и расчетов были построены графики зависимости коэффициентов пропускания от длины волны при различных углах падения света на светофильтр.

Длина волны максимального пропускания задается формулой:

max =2hn cosj2/(m - /), где j2 –угол преломления, который увеличивается с увеличением угла падения излучения, с увеличением угла его косинус уменьшается, а значит и длина волны должна уменьшаться.

При помощи графиков можно пронаблюдать смещение максимумов: при повороте ИФ на 20о, max  смещается на 33 нм; при повороте на 45о – на 86 нм. Это подтверждает зависимость спектропропускания фильтра от  угла падения излучения: с увеличением угла падения (относительно нормали),  длина волны максимального пропускания действительно уменьшается, а ширина полосы пропускания на уровне 0,5Tmax увеличивается.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

732. Специфика работы агента по снабжению и сбыту в РТУП Торговый дом Легпром 155.5 KB
  Функции и задачи отделов МТО и сбыта. Нормативно-правовые документы, касающиеся материально-технического обеспечения и сбыта продукции в РТУП Торговый дом Легпром. Разработка планов материально-технического обеспечения. Заключение хозяйственных договоров. Учет и контроль поступления и реализации товарно-материальных ценностей. Организация складского хозяйства. Отгрузка продукции потребителям.
733. Анализ деятельности фирмы на рынке и теория коррупции 127 KB
  Рынок и закономерности его функционирования. Крупный бизнес и слабое государство. Конкурентные рынки и выбор фирм. Планирование деятельности и доходов фирмы. Проблемы российских предпринимателей при ведении ими бизнеса. Динамика коррупции в России.
734. Определение коэффициента вязкости жидкости по методу падающего шарика 57 KB
  Основная расчетная формула для вычисления коэффициента вязкости жидкости. Средние значения диаметра шарика и время его падения. Средства измерений и их характеристики. Расчет границы абсолютной погрешности измерения плотности материала шариков.
735. Многофункциональный высотный жилой дом 96 KB
  Решение генплана и благоустройство территории. Конструктивное решение объекта. Инженерно-техническое решение и оборудование. Мероприятия по решению вопросов энергосбережения и экологии. Площади для размещения инженерного оборудования.
736. Сетевые методы планирования и управления 530 KB
  Составление индивидуального перечня работ и построение СГ. Расчет сметной стоимости работ. Расчет сметной стоимости работ оптимизированного СГ. Построение графиков Время – затраты.
737. Возникновение и протекание гипертонической болезни 143 KB
  Этиология, патогенез и лечение гипертонической болезни. Стадия начальных органических изменений. Стресс и хроническое психоэмоциональное напряжение. Классификация и клинические проявления. Профилактика гипертонической болезни
738. Инструкции обработки цепочек на языке ассемблер 89 KB
  Изучить команды обработки цепочек процессора i8086. Зашифровать строку по таблице. Таблица считается известной.
739. Влияние налогов на развитие малого предпринимательства 129.5 KB
  Сущность малого бизнеса и его роль в экономике страны. Упрощенная система налогообложения. Система налогообложения в виде единого налога на вмененный доход. Роль налоговой системы на развитие малого предпринимательства в России.
740. Процесс создание и отладки программы на языке ассемблера 88 KB
  Знакомство с методами создания и отладки программ, написанных на языке ассемблера. Создание программы, на языке ассемблера выполняющей арифметическую операцию и ввод/вывод с консоли. Трансляция, компоновка, трассировка программы.