42312

ОПРЕДЕЛЕНИЕ КАЧЕСТВА ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ С ПОМОЩЬЮ МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРА

Лабораторная работа

Физика

Теория и опыт неопровержимо свидетельствуют что свет представляет собой электромагнитные волны диапазона 040106 – 076106 метров. Электромагнитные волны – поперечные характеризуются колебанием двух векторов: напряженности электрического поля и магнитной индукции . Колебания электрической и магнитной составляющих поля световой волны происходят в одинаковых фазах во взаимно перпендикулярных плоскостях. Как показывает исследование векторы и единичный вектор направления вдоль которого происходит распространение волны образуют...

Русский

2013-10-29

672.5 KB

12 чел.

ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА ВМ 4

ОПРЕДЕЛЕНИЕ КАЧЕСТВА ОБРАБОТКИ

ПОВЕРХНОСТИ С ПОМОЩЬЮ

МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРА

ТРЕБОВАНИЯ ПО ТЕХНИКЕ БЕЗОПАСНОСТИ

Прибор МИИ-4 имеет подключение к электрической цепи через понижающий трансформатор 220/6 В. Не допускайте перегрева осветительного узла прибора. При работе соблюдайте требования инструкции по технике безопасности №170. Не включайте прибор, пока не ознакомитесь с его устройством.

ЦЕЛЬ РАБОТЫ: Определение качества обработки поверхности по интерференционной картине, создаваемой интерферометром МИИ-4.

ПРИБОРЫ И ОБОРУДОВАНИЕ: микроинтерферометр типа МИИ-4, понижающий трансформатор, исследуемый образец.

1. КРАТКИЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ

В основе принципа действия прибора лежит явление интерференции света. Под интерференцией  понимается явление стационарного (т.е. независящего от времени), перераспределения энергии в световом поле двух когерентных источников света при их наложении . Интерференция – явление, характерное для всех волновых процессов,  и наблюдение интерференции у световых пучков наглядно свидетельствует о волновой природе света.

Теория и опыт неопровержимо свидетельствуют, что свет представляет собой электромагнитные волны диапазона 0,4010-6 – 0,7610-6 метров. Электромагнитные волны – поперечные, характеризуются колебанием двух векторов: напряженности электрического поля  и магнитной индукции . Колебания электрической и магнитной составляющих поля световой волны происходят в одинаковых фазах во взаимно перпендикулярных плоскостях. Как показывает исследование, векторы ,  и единичный вектор направления, вдоль которого происходит распространение волны, образуют правую тройку векторов. Если колебания векторов  и  соответственно происходят в фиксированных плоскостях, такая волна называется плоско поляризованной. Если же при этом колебания волны заключены в достаточно узком диапазоне частот, то волну называют монохроматической. Простейшим типом электромагнитной волны является монохроматическая плоская волна. Такая волна однозначно определяется заданием двух векторов – вектора  и вектора :

,

где - расстояние, на которое распространилась волна от источника, - скорость распространения волны.

Как показывает опыт, физиологическое, фотохимическое, фотоэлектрическое и другие действия света вызываются колебаниями электрической составляющей поля волны, в связи с чем вводится понятие светового вектора, под которым понимается вектор электрической напряженности .

Пусть две волны одинаковой частоты, накладываясь друг на друга, возбуждают в некоторой точке колебания одинакового направления

где Е01, Е02 – амплитудные значения светового вектора, а величины  и  представляют собой фазы колебаний.

Рис. 1.

Результирующее колебание в общем случае определяется в соответствии с принципом суперпозиции. В нашем случае (колебания одинакового направления) удобно воспользоваться графическим методом векторного сложения амплитуд. Под вектором амплитуды понимается вектор , модуль которого равен значению амплитуды, а угол, который этот вектор  составляет с заданной осью Х, соответствует фазе колебания  (см. рис.1).

Проекции векторов  и  на ось Х представляют собой складываемые состояния колебаний в данный момент времени, вектор  представляет собой вектор амплитуды результирующего колебания, а угол  – фазу результирующего колебания. С изменением времени  векторы ,  и  будут вращаться вокруг оси, при этом форма параллелограмма и угол  будут меняться сложным образом, так что результирующее колебание не будет гармоническим. Амплитуда этого колебания определяется уравнением:

,

а фаза

.

Как известно, интенсивность волны (в данном случае освещенность) пропорциональна квадрату амплитуды колебания, а в нашем случае

.

Таким образом, интенсивность светового поля будет пульсировать между крайними значениями с частотой 1015 с-1. Ни глаз, ни оптический прибор не в состоянии фиксировать мгновенное состояние светового поля, измеряющегося с такой огромной частотой, а способно лишь фиксировать его среднее значение:

.

Вот откуда и следует известный закон фотометрии: освещенность от двух источников равна сумме освещенностей.

Представляет интерес частный случай, когда , и разность фаз  не зависит от времени и остается постоянной. Волны, удовлетворяющие этим условиям, называются когерентными. В световом поле когерентных источников света происходит стационарное (не зависящее от времени) перераспределение энергии, в результате которого в одних местах происходит усиление интенсивности (максимум интерференции), а в других ослабление интенсивности (минимум интенсивности). Условия максимума  интерференции получаются из очевидных соображений

;

условия минимума

.

Числа k и т называют соответственно порядком максимума и порядком минимума.

Излучение светящегося тела слагается из волн, испускаемых атомами тела. Излучение отдельного атома продолжается 10-8 с, за это время успевает образоваться цуг волн протяженностью 3 м. Испустив свою избыточную энергию в виде излучения, атом возвращается в нормальное (невозбужденное) состояние. Спустя некоторый промежуток времени атом может опять возбудиться и начать излучать свет. Отдельный цуг волн обладает высокой степенью монохроматичности. Но в каждый момент времени излучение света осуществляется не одним, а весьма большим числом атомов светящегося тела. Эти атомы излучают световые волны независимо друг от друга, поэтому монохроматичность совокупного излучения источника света нарушается, начальные фазы тоже не связаны между собой; даже для одного и того же атома начальные фазы могут меняться. Значит, волны получаются некогерентными. Когерентные световые волны можно получить, разделив волну, излучаемую одним источником, на две части. Если заставить эти две волны пройти различные пути, а потом наложить их друг на друга, наблюдается интерференционная картина. Практически это может быть осуществлено различными способами: с помощью зеркал, приз, экранов и т.д.Разность оптических путей, проходимых волнами, не должна быть очень большой, чтобы складываемые колебания принадлежали одному цугу волн.

Рис. 2.

        Пусть разделение волн происходит в точке Р (рис.2). До точки Р первая волна проходит в среде с показателем преломления  путь , вторая волна – в среде с показателем преломления  путь . Если в точке О  фаза колебаний равна , то первая волна возбудит в точке Р колебание , а вторая волна – колебание , где ,  - фазовые скорости волн. Разность фаз возбуждаемых в точке Р колебаний , равна  Заменив , где  - длина волны в вакууме, имеем , где   - оптическая разность хода.

         Если оптическая разность хода равна целому числу длин волн в вакууме,

  (т = 0,1,2….) ,                               (1)

Рис. 3. Схема опыта Юнга

то разность фаз будет кратна 2π , и колебания, возбуждаемые в точке Р обеими волнами , будут происходить в одной фазе, т.е. (1) – условие максимума интерференции.

         Если  равна полуцелому числу длин волн в вакууме,

         (т = 0,1,2….),          (2)

то , и колебания в точке Р будут в противофазе, т.е. (2) – условие минимума интерференции.

В опыте Юнга (1802 г.) (рис.3) свет из точечного источника (малое отверстие,  щель S) проходит через два равноудаленных отверстия – щели  и .  Согласно принципу Гюйгенса, каждое малое отверстие  и становится источником полусферических волн. Эти волны перекрывают друг друга. Так как колебания в точках  и  вызываются одной и той же падающей волной, то они имеют одинаковую частоту, колебания совершаются в одинаковой фазе.

Рассмотрим результат наложения световых волн в некоторой точке М экрана, расположенного на некотором расстоянии параллельно  и . Обозначим разность хода волн до этой точки М от S1 и S2        .

Рис. 4. Схема расчета от интерференционной картины от двух линейных источников света

Проведем расчет интерференционной картины для линейных источников света, т.е. узких параллельных близко расположенных щелей. В этом случае на экране будет наблюдаться система чередующихся светлых и темных параллельных полос, как показано на рис.4.

Рассмотрим две узких щели  и , расположенных перпендикулярно к плоскости чертежа на расстоянии  друг от друга. Экран тоже перпендикулярен плоскости чертежа и находится на расстоянии  от щелей.. Рассчитаем разность хода до точки М, находящейся на расстоянии х от центральной линии экрана, относительно которой симметричны источники  и . Из рисунка:

Вычитая, имеем: .

Для получения различимой интерференционной картины должно быть  (это будет показано ниже). Отсюда следует, что , очевидно,

.

Подставив это значение  в условие максимума, имеем:

,

или  .По этой формуле можно подсчитать положения последовательных максимумов.

        Для минимумов интенсивности:

.

Величина  называется порядком интерференционного максимума или минимума. Расстояние между соседними максимумами  или минимумами называется шириной интерференционной полосы и остается неизменной вдоль экрана  для данной длины волны:

.

Как видим, х растет с уменьшением расстояния между источниками. Поэтому для того, чтобы картина интерференции была отчетливой, необходимо условие . Ширина полоски зависит от длины волны (). Если источник испускает монохроматический свет , то интерференционная картина представляет собой чередование темных и светлых полос.

Если освещение производится белым светом (а он состоит из семи цветов, которые имеют разную длину волны), то интерференционная картина представляет чередование цветных полос, т.к. максимумы и минимумы разных цветов смещаются друг относительно друга. Ближе к центру расположены максимумы, соответствующие более коротким длинам волн – фиолетовым. В центре картины, при х = 0, максимумы всех длин волн совпадут, и центральная полоса будет белой.

Интерференцию можно наблюдать не только в лабораторных условиях. Мы видим радужные окраски мыльных пленок, тонких пленок нефти, масла на поверхности воды. Эти явления обусловлены интерференцией, которая возникает в результате наложения когерентных волн, отражающихся от верхней поверхности пленки.

Явление интерференции нашло практическое применение для определения длин волн световых лучей, для уменьшения отражения света на границах раздела линз в различных оптических системах (“просветление оптики”, в различных типах интерферометров).

Подробнее рассмотрим интерферометр, применяемый для контроля за чистотой обработки металлических поверхностей с высоким классом точности.

2. ОПИСАНИЕ ЛАБОРАТОНОЙ УСТАНОВКИ

Принцип действия и схема микроинтерферометра МИИ-4 впервые были разработаны и применены для исследования качества тонкообработанных поверхностей академиком Линником В.П. Микроинтерферометр применяется в лабораториях научно-исследовательских и учебных институтов и промышленных предприятий, занимающихся вопросами чистоты обработки поверхностей.

В микроинтерферометре МИИ-4 для получения системы двух когерентных волн используется наклонная плоскопараллельная пластинка, имеющая прозрачное светоделительное покрытие. Пластинка посеребрена так, что половину падающего на нее света она отражает, половину пропускает, вследствие чего образуются две системы волн, способных интерферировать. Упрощенная оптическая схема микроинтерферометра изображена на рис. 5.

Свет от источника  падает на полупрозрачную пластинку Р, которая и разделяет падающий пучок 1 на два. Пучок 2,  отраженный от пластинки, попадает на исследуемую поверхность П, второй пучок лучей 3 через компенсатор К попадает на эталонное зеркало . Пучок света 2, отразившись от поверхности П, а пучок света 3, отразившись от зеркала , вновь соединяются на пластинке Р и интерферирует. Изображение интерференционной картины объективом О и направляющим зеркалом переносится в фокальную плоскость окуляра Ок. На рисунке показан ход только центральных лучей от источника.

Рис. 5. Оптическая схема интерферометра Линника

Компенсатор К – стеклянная пластинка такой же толщины как Р, устанавливается параллельно Р с той целью, чтобы устранить возникающую дополнительную разность хода на пути вертикального луча 2, т.к. этот луч проходит пластинку Р трижды, а луч 3 один раз. Для расчета интерференционных картин необходимо знать разность хода лучей. В данной схеме разность хода обусловлена различием плеч от Р до П и от Р до , а также зависит от обработки поверхности П и от углов, которые образуют падающие лучи с П и .

Если исследуемая поверхность обработана с высокой степенью точности, то интерференционная картина в поле зрения микроскопа будет состоять из системы чередующихся темных и светлых полос (рис. 6а – в монохроматическом свете), в белом свете – полосы окрашены. В точках поля наблюдения, где разность хода равна , и т.д., получаются светлые полосы (максимумы), а в точках, где разность хода равна , и т.д. – темные полосы (минимумы). Если на испытуемой поверхности есть выступы или неровности, то в этих местах изменится длина пути луча 2, и интерференционные максимумы соответственно сдвигаются, как показано на рис. 6б. Если неровности на испытуемой поверхности имеют глубину , то добавочная разность хода луча 2 равна . В результате интерференционная полоса искривится и достигнет положения, соответствующего минимуму следующего порядка.

Рис. 6 Вид интерференционных полос в микроскопе: а) в случае

обработки с высокой степенью точности; б) в случае

наличия на поверхности неровностей

.

      Микроинтерферометр МИИ-4 (рис.7) имеет круглое основание. К верхнему концу основания привинчена полая цилиндрическая колонка, на которой установлен предметный столик 1. Образец устанавливается на предметном столике исследуемой поверхностью вниз. При помощи двух микрометрических винтов 2 столик можно перемещать в двух взаимно перпендикулярных направлениях, величину перемещения столика отсчитывают по шкалам барабанов винтов. В колонке под углом 700 к вертикальной оси расположен визуально тубус 3, в отверстие которого устанавливают окуляр со шкалой или сеткой, предназначенной для измерения ширины полос и их искривления. Фокусировка микроскопа на объект осуществляется перемещением интерференционной головки (описание головки см. ниже) при вращении микрометрического винта 4. Величина вертикального перемещения интерференционной головки может быть отсчитана по шкале барабана этого микрометрического винта. Интерференционная головка укреплена на внутреннем стакане микроскопа. Она состоит из левой, средней и правой частей. Левая часть головки включает в себя фонарь 5 с центровочными винтами и трубку 6, в  которую вмонтирована осветительная часть системы. В трубке установлена горизонтально выдвигающаяся пластинка 7 с тремя отверстиями. В двух крайних отверстиях этой пластинки закреплены светофильтры (зеленый и желтый) для получения монохроматического света, среднее отверстие, свободное, используется при работе в обычном белом свете. В корпусе средней части установлены разделительная пластинка и компенсатор (Р и К – рис.5). Рукоятка 8 служит для включения шторки. При включенной шторке лучи не попадают в объектив и зеркальце , и интерференционная картина в окуляре отсутствует. На торце рукоятки 8 нанесена стрелка, указывающая положение шторки. В правой части имеется устройство для изменения ширины и направления интерференционных полос. Ширина полос изменяется вращением винта 10 вокруг оси. Изменение направления полос производится этим же винтом путем вращения его вокруг оси интерференционной головки. Винт 11 служит для смещения интерференционных полос в поле зрения микроскопа.

Центровочный винт не перемещать, т.к. прибор настроен и отцентрирован!

Питание прибора производится через трансформатор 12.

Рис.7. Внешний вид интерферометра Линника

3. ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ

  1.  Включить лампу прибора и положить на предметный столик 1 исследуемый объект.
  2.  Повернуть рукоятку 8 так, чтобы  стрелка на ней стояла вертикально.
  3.  С помощью микрометрического винта 4 сфокусировать микроинтерферометр на исследуемую поверхность так, чтобы была видна обработка поверхности образца.
  4.  Поворотом рукоятки 8 включить правую часть интерференционной головки (стрелка на рукоятке должна быть в горизонтальном положении), при этом в поле зрения должны быть видны интерференционные полосы, но если они не наблюдаются, то микрометрическим винтом 4, поворачивая его по часовой стрелке, снова сфокусировать  исследуемую поверхность, пока не появятся интерференционные полосы.
  5.  С помощью микрометрического винта 4 добиться наиболее резкого изображения полос. В поле зрения видны одновременно интерференционная картина и исследуемая поверхность.
  6.  Поворотом винта 10 вокруг оси интерференционной головки установить интерференционные полосы перпендикулярно к следам обработки поверхности (бороздам). Для работы с монохроматическим светом можно включить один из светофильтров перемещением до упора пластинки 7. При работе в белом свете интерференционная картина окрашена. Винтовой окулярный микрометр 3 следует установить на тубусе микроскопа до упора, затем повернуть так, чтобы одна из нитей перекрытия совпала с направлением интерференционных полос, другая -  с направлением царапин на исследуемой поверхности.
  7.  Измерения состоят из двух операций:

а) измерение величины интервала между полосами;

б) измерение величины изгиба полос.

При работе с белым светом все измерения производятся по двум черным полосам.

а) Величина интервала между полосами выражается числом делений шкалы барабана окулярного микрометра. Для большей точности измерения наводку нити перекрестия сетки окулярного микрометра лучше производить по середине, а не по краям полосы (рис. 8). Первый отсчет  производится по шкале барабана винтового окулярного микрометра при совмещении одной из нитей перекрестия подвижной сетки с серединой полосы, затем совмещают эту же нить перекрестия с серединой следующей полосы и получают второй отсчет ; при этом необходимо сосчитать число интервалов п между полосами. Обозначим .

Рис. 8

Вид узкой полоски поля зрения прибора в увеличенном масштабе.

Указано правильное расположение горизонтального штриха перекрестия

винтового окулярного микрометра при изменении

б) Величину изгиба полос также выражают в делениях шкалы барабана винтового окулярного микрометра. Одну из нитей перекрестия сетки микрометра совмещают с серединой полосы и по шкалам окулярного микрометра снимают отсчет . Затем нить перекрестия совмещают с серединой той же полосы в месте изгиба и получают второй отсчет . Величина изгиба полосы в долях интервала между полосами выражается как отношение величины искривления полос () к интервалу между полосами ():

.

Как было сказано выше, искривление в одну интерференционную полосу соответствует высоте неровности на исследуемой поверхности, равной . В таком случае, измеренная высота неровности Н вычисляется по формуле:

,

где  – длина волны используемого света.

Если работа выполняется в белом свете, то  принимают равным 0,55 мк, тогда =0,27 мк. Формула для вычисления высоты неровности имеет вид:

(мк).

Для определения Нср необходимо снять с исследуемого участка поверхности не менее трех замеров. Длина волн желтого цвета – 0,585 мк, зеленого – 0,567 мк. Данные измерений и вычислений заносят в таблицу.

Таблица 1.

№ опыта

а

п

Н (мк)

1

2

3

СРЕДНЕЕ ЗНАЧЕНИЕ Н = ……. Мк

Класс чистоты обработки поверхности тела можно определить на основании данных справочной таблицы 2.

Таблица 2.

Класс чистоты поверхности

Высота неровности в мк

1

320

2

160

3

80

4

40

5

20

6

10

7

6,3

8

3,2

9

1,6

10

0,8

11

0,4

12

0,2

13

0,1

14

0,05

Для получения информации о качестве обработки всей поверхности необходимо провести 3-5 замеров для разных участков поверхности. Для каждого из этих участков определить глубины царапин (канавок, возникших при обработке). На основании таблицы 2 определить класс чистоты поверхности. По своим данным сделать выводы, в каких пределах заключены показатели качества обработки поверхности.

4. ТРЕБОВАНИЯ К ОФОРМЛЕНИЮ ОТЧЕТА

Отчет должен содержать формулировку цели работы, принципиальную схему прибора и его паспортные характеристики, описание процедуры снятия показаний (значения меток N1, N2, N3, N4, n – должны быть расшифрованы), таблицу наблюдений,  класс чистоты обработки поверхности,  выводы по результатам работы.

5. КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

  1.  В чем состоит  интерференция света?
  2.  Раскройте понятие когерентности волн.
  3.  Поясните, почему явление интерференции света доказывает волновую природу света.
  4.  Поясните условия усиления и ослабления света.
  5.  Почему не интерферируют волны от естественных источников света?
  6.  Объясните возникновение интерференционной картины в данной установке.

6. ЛИТЕРАТУРА

1. Савельев И.В. Курс общей физики. В 3-х т. [Текст] : Учебное пособие / И. В. Савельев. – Изд.5-е,стереотип. – СПб.: Изд-во “Лань”, 2006, -486с. – Т.2. –   347 с. – (.Электричество и магнетизм.Волны.Оптика).

2. Ахматов А.С. Лабораторный практикум по физике. [Текст]/А.С.Ахматов, – М.: Высшая школа, 1980, 287с.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

84227. СМЕШАННЫЕ ДИСТРОФИИ НАРУШЕНИЕ ОБМЕНА ХРОМОПРОТЕИДОВ (ЭНДОГЕННЫЕ ПИГМЕНТАЦИИ). НАРУШЕНИЕ ОБМЕНА 30.75 KB
  Обмен железа в норме регулируется так чтобы общая сумма железа в организме поддерживалась в пределах узкого диапазона. Увеличение общего количества железа в органе наблюдается при гемосидерозе и гемохроматозе. Анаболический ферритин образуется из железа всасывающегося в кишечнике а катаболический из железа гемолизированных эритроцитов. Билирубин конечный продукт катаболизма порфиринового кольца молекулы гемоглобина он не содержит ни железа ни белка.
84229. НАРУШЕНИЕ МИНЕРАЛЬНОГО ОБМЕНА (МИНЕРАЛЬНЫЕ ДИСТРОФИИ) 24.82 KB
  Обмен кальция. Нарушение обмена кальция в тканях организма называют обызвествлением. Метастатическая кальцификация возникает при увеличении концентрации кальция или фосфора в крови гиперкальциемия.
84230. ОБРАЗОВАНИЕ КАМНЕЙ КАК ОДНА ИЗ ФОРМ НАРУШЕНИЯ ОБМЕНА ВЕЩЕСТВ 22.61 KB
  Наиболее часто камни образуются в желчных и мочевых путях являясь причиной развития желчнокаменной и мочекаменной болезней. Они встречаются также в других полостях и протоках: в выводных протоках поджелудочной железы и слюнных желез в бронхах и бронхоэктазах бронхиальные камни в криптах миндалин на зубах в кишечнике. Желчные камни могут быть холестериновыми пигментными известковыми или холестериновопигментноизвестковыми сложные или комбинированные камни.
84231. НЕКРОЗ 24.24 KB
  Факторы вызывающие некроз: физические; токсические; биологические; аллергические; сосудистый; трофоневротический. зависимости от механизма действия патогенного фактора различают: прямой некроз обусловленный непосредственным действием фактора травматические токсические и биологические некрозы; непрямой некроз возникающий опосредованно через сосудистую и нервноэндокринную системы аллергические сосудистые и трофоневротические некрозы. морфологические признаки некроза.
84232. АПОПТОЗ. АТРОФИЯ 25.24 KB
  АТРОФИЯ Определение морфологические проявления апоптоза Определение классификация значение атрофии Апоптоз или запрограммированная смерть клетки представляет собой процесс посредством которого внутренние или внешние факторы активируя генетическую программу приводят к гибели клетки и ее эффективному удалению из ткани. При увеличении апоптоза наблюдается прогрессивное уменьшение количества клеток в ткани атрофия. Атрофия прижизненное уменьшение объема ткани или органа за счет уменьшения размеров каждой клетки а в дальнейшем числа...
84233. НАРУШЕНИЯ КРОВООБРАЩЕНИЯ 23.15 KB
  Общее артериальное полнокровие или артериальная гиперемия это увеличение числа форменных элементов крови эритроцитов иногда сочетающееся с увеличением объема циркулирующей крови. Общее венозное полнокровие один из самых частых типов общих нарушений кровообращения и является клиникоморфологическим проявлением сердечной или легочносердечной недостаточности. Общее венозное полнокровие может быть по клиническому течению острым и хроническим.
84235. Шок, виды шока 25.28 KB
  В основе этого вида шока лежит: уменьшение объема крови в результате кровотечения; чрезмерная потеря жидкости дегидратация; периферическая вазодилятация. При септическом шоке наиболее выражен ДВСсиндром потому что бактериальные эндотоксины обладают прямым действием на свертывающую систему крови. В основе развития анафилактического шока лежит гиперчувствительность реагинового типа обусловленная фиксацией IgE на базофилах крови и тканевых базофилах. В ответ на уменьшение сердечного выброса активируется симпатическая нервная система...