43133

Поиск неисправностей в СВ

Курсовая

Коммуникация, связь, радиоэлектроника и цифровые приборы

Анализ неисправности на структурном уровне По структурной схеме СВ устанавливаем вероятный неисправный блок. Согласно внешним признакам проявления неисправности очевидно что неисправен может быть либо сам ПОУ СВ либо блок ВчУ структурный уровень так как только эти устройства участвуют в записи информации с ПОУ СВ на ВчУ. Анализ неисправности на функциональном уровне По функциональной схеме устанавливаем вероятные неисправные устройства блока ПОУ СВ и ВчУ. Учитывая внешний признак проявления неисправности очевидно что этими устройствами...

Русский

2013-11-03

1.17 MB

4 чел.

Московский Государственный Технический Университет

им. Н.Э. Баумана

Факультет военного обучения

ВК №3

Курсовая работа на тему:

«Поиск неисправностей в СВ»

Вариант №21

Студент: Кукушкин Ю.Е.

Группа: МТ10-103

Руководитель: майор Кабушев С.В.

Москва 2008 г.


Содержание


Задание на курсовую работу

Не записывается в 10 ОР информация с клавишей ПОУ СВ.


Методика поиска неисправностей и обозначение различных вариантов поиска.

Анализ неисправности на структурном уровне

По структурной схеме СВ устанавливаем вероятный неисправный блок.

Согласно внешним признакам проявления неисправности, очевидно, что неисправен может быть либо сам ПОУ СВ, либо блок ВчУ (структурный уровень), так как только эти устройства участвуют в записи информации с ПОУ СВ на ВчУ. Никакие другие устройства и а также шины СВ (МЗп, МЧт, МА) участия в процессе записи информации с ПОУ СВ в ВчУ не принимают.

Рис.1. Структурная схема спецвычислителя (СВ).


Анализ неисправности на функциональном уровне

По функциональной схеме устанавливаем вероятные неисправные устройства блока ПОУ СВ и ВчУ. Учитывая внешний признак проявления неисправности, очевидно, что этими устройствами являются: кнопка ЗАП ОР, кнопка АДРЕС ОР, схема взаимодействия с пультом оперативного управления (ВПОУ), схема дешифратора адреса ОР.

Рис.2. Функциональная схема блока ВчУ.

Из условий задачи видно, что неисправен только один оперативный регистр, в то время как другие работают нормально. Поэтому в дальнейшем будем рассматривать только схему прохождения информации от ПОУ СВ до ОР.

Для определённости рассмотрим работу 10 ОР.

 

Перечень материалов, необходимых для устранения неисправности

Неисправное устройство

Неисправные узлы

Неисправные ТЭЗы

Количество

Вычислительное устройство СВ (ВчУ СВ)

Схема взаимодействия с ПОУ СВ, схема приёма информации с ПОУ (ВПОУ)

ТЭЗ 206 ЛУС-233

1

Вычислительное устройство СВ (ВчУ СВ)

Дешифратор адреса ОР

ТЭЗ 214 ЛУС-2-056

1


Анализ неисправности на принципиальном уровне

По принципиальным схемам определим неисправный элемент, из-за выхода из строя которого, наблюдается данная неисправность (принципиальный уровень).

Принципиальные схемы прилагаются к сопроводительной документации к СВ и имеют обозначения:

  •  ВчУ-1 - схема электрическая принципиальная (5 листов) – ЭП3.031.157 Э3
  •  ПОУ СВ - схема электрическая принципиальная (1 лист) – ЭП2.390.165 Э3

Составим алгоритм поиска неисправности по принципиальной схеме.

Проверим работоспособность кнопки ЗАП ОР, АДРЕСС ОР  , в случае неправильного функционирования – заменить кнопку.

Далее проследим движение сигналов от кнопок по схеме. Проверим обеспечение соответствующих контактов на разъёмах шины 2-Ш30 (Е-Ш30) между ПОУ СВ и ВчУ.

Далее сигналы приходят в схему взаимодействия с ПОУ СВ, проходя при этом схему приёма информации. Для нахождения неисправности на данном этапе следует проверить функциональность элемента ТЭЗ 206 ЛУС-233 и при обнаружении неисправности - заменить его.

После сигналы передаются по внутренней шине ВчУ. Для нахождения неисправности на данном этапе проверить шину на отсутствие обрывов.

Далее сигнал приходит в оперативный регистр. Для нахождения неисправности на данном этапе следует проверить функциональность дешифратора адреса ОР и при обнаружении неисправности - заменить его.

На основании проведенного анализа составим алгоритм поиска и устранения неисправности на принципиальном уровне.


Заключение

В ходе выполнения курсовой работы были проведены следующие ключевые этапы:

Разработана методика поиска неисправности на функциональном и принципиальном уровнях

Составлены алгоритмы поиска неисправности на функциональном и принципиальном уровнях

Определены неисправные блоки (схемы).


Список используемой литературы

  1.  Курс лекций по теме СВ.
  2.  Комплект схем к курсу занятий по теме СВ.
  3.  Документация на СВ.


Есть сигнал?

Алгоритм поиска неисправностей на функциональном уровне

Начало

Да

Да

Да

Нет

Нет

Нет

Проверить тракт от ТЭЗ ЛУС-233 до ТЭЗ ЛУШ-2-056

Проверить записанную информацию 10 ОР путем считывания из ОР.

Есть сигнал?

Да

Нет

Неисправности на принципиальном уровне найдены

Проверить сигнал        на выходе ТЭЗ 214 ЛУС-2-056

Заменить ТЭЗ 214 ЛУС-2-056

Заменить ТЭЗ 206 ЛУС-233

Есть сигнал?

Алгоритм поиска неисправностей на принципиальном уровне.

Проверить сигнал        10 ОР, на выходе ТЭЗ 206 ЛУС-233

Да

Нет

Да

Нет

Нет

Нет

Неисправности на функциональном уровне

найдены.

Заменить схему дешифратор адреса ОР

Схема дешифратор адреса ОР исправна?

Заменить в схеме ВПОУ ТЭЗ 206 ЛУС-233

Схема взаимодействия с ПОУ СВ, схема приема информации с ПОУ СВ. ТЭЗ 206 ЛУС-233 исправна?

Замена кнопки     ЗАП ОР.

Кнопка        ЗАП ОР исправна?

Начало

Проверить тракт от разъема 2-ШЗО до ТЭЗ 206 ЛУС -233

Проверить сигнал на входе ТЭЗ 206 ЛУС-233

Информация верна?

Кнопка   АДРЕС ОР исправна

Замена кнопки     ЗАП ОР.

Да

Да

  1.  

 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

5040. Измерение длины волны излучения лазера интерференционным методом 138 KB
  Измерение длины волны излучения лазера интерференционным методом Цель работы: ознакомиться с принципами работы лазеров измерить длину волны излучения лазера и сравнить спектры его индуцированного и спонтанного излучений. Приборы и принадлежности: г...
5041. Определение длин волн излучения источников дискретного и непрерывного спектров 187 KB
  Определение длин волн излучения источников дискретного и непрерывного спектров Цель работы: градуировка спектроскопа по известному спектру неона, определение длин волн в спектре паров ртути и границ видимого спектра лампы накаливания. Приборы и прин...
5042. Исследование статических характеристик полупроводниковых диодов 129.5 KB
  Исследование статических характеристик полупроводниковых диодов. Цель работы Изучить устройство полупроводникового диода, физические процессы, происходящие в нем, характеристики, параметры, а также типы и применение полупроводниковых диодов...
5043. Кинематический анализ и синтез плоских рычажных, рычажных, кулачковых и зубчатых механизмов 509.5 KB
  Структурный анализ механизма. Число степеней свободы механизма определяем по формуле П. Л. Чебышева. где n- число подвижных звеньев механизма, p5- число кинематических пар пятого класса, p4- число Кинематических пар четвертого класса. В ...
5044. Изучение структуры углеродистых сталей после различных видов термической обработки 94 KB
  Изучение структуры углеродистых сталей после различных видов термической обработки Цель работы - изучение влияния закалки и отпуска на структуру и свойства углеродистых сталей. Оборудование, оснастка, приборы: электрические камерные печи...
5045. Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки 111.5 KB
  Определение длины световой волны при помощи дифракционной решётки Цель работы: определение с помощью дифракционной решётки длины световых волн в различных частях видимого спектра. Приборы и принадлежности: дифракционная решётка плоская шкала со щел...
5046. Определение эффективного коэффициента ослабления космических лучей 119.5 KB
  Определение эффективного коэффициента ослабления космических лучей Цель работы: определение эффективного коэффициента ослабления космических лучей в свинце. Приборы и принадлежности: установка для измерения интенсивности космических лучей ФПК...
5047. Исследование комбинационных логических схем 185 KB
  Исследование комбинационных логических схем. ЧАСТЬ 1. Исследование базового логического элемента ТТЛ. Построить передаточную характеристику. Реализовать с помощью ЛЭ 2И-НЕ схемы И, ИЛИ, НЕ...
5048. Исследование структуры и устройства триггеров 116.5 KB
  Исследование структуры и устройства триггеров. Исследование асинхронного RS- триггера. Исследование двухступенчатого RS – триггера...