91755

Тактика проверки показаний на месте

Доклад

Государство и право, юриспруденция и процессуальное право

Сущность проверки показаний на месте состоит в том что ранее допрошенное лицо: воспроизводит на месте обстановку и обстоятельства исследуемого события; указывает на предметы документы следы имеющие значение для уголовного дела; демонстрирует определенные действия...

Русский

2015-07-21

42.5 KB

0 чел.

Тактика проверки показаний на месте

Проверка показаний на месте - самостоятельное следственное действие, с помощью которого исследуются фактические данные, содержащиеся в показаниях подозреваемых, обвиняемых, свидетелей и потерпевших.

Сущность проверки показаний на месте состоит в том, что ранее допрошенное лицо: 1)воспроизводит на месте обстановку и обстоятельства исследуемого события;

2) указывает на предметы, документы, следы, имеющие значение для уголовного дела;

3) демонстрирует определенные действия.

Условия проведения проверки показания на месте:

1) наличие возбужденного уголовного дела;

2) добровольность участия в нем лиц, показания которых проверяются.

Стадии проверки показаний:

1) подготовка к проведению;

2) проведение проверки показаний на месте;

3) фиксация хода и результатов его проведения. Подготовка к проведению:

1) определение целей и задач следственного действия;

2) предварительный допрос лица, показания которого подлежат проверке;

3) определение времени производства следственного действия;

4) ознакомление следователя на месте производства следственного действия с его обстановкой;

5) подготовка научно-технических средств;

6) получение консультаций у специалистов;

7) определение участников проверки показаний на месте, принимая во внимание тяжесть совершенного преступления, личность участника следственного действия, показания которого проверяются;

8) предупреждение участников проверки показаний на месте, что вопросы проверяемому лицу задаются только с разрешения следователя, при этом недопустимо задавать наводящие вопросы;

9) составление плана проверки показаний на месте. Следователь в присутствии понятых предлагает указать проверяемому место проведения следственного действия.

Проверка показаний на месте возможна без участия понятых в таких случаях:

1) если это следственное действие проводится в труднодоступной местности;

2) при отсутствии надлежащих путей сообщения;

3) если производство связано с повышенной опасностью для жизни и здоровья людей. Одновременная проверка показаний нескольких лиц не допускается. Лицо, показания которого проверяются, обязательно должно идти впереди следователя. После того как участник проверки показания на месте расскажет о своих действиях и продемонстрирует их, ему можно будет задать вопросы. Все возникающие в ходе проведения следственного действия противоречия незамедлительно устраняются следователем путем постановки соответствующих вопросов. Если проверка показания на месте производится с участием несовершеннолетнего, желательно участие его родителей, которые при перемещении по месту проведения следственного действия держат ребенка за руку.

Фиксация проверки показаний на месте осуществляется путем:

1) составления протокола, в котором отражаются:

а) путь движения группы;

б) действия и пояснения лица, чьи показания проверяются;

в) обнаруженные на месте проверки следы, вещественные доказательства;

2) применения фотографирования, видеозаписи;

3) составления плана или схемы.


 

А также другие работы, которые могут Вас заинтересовать

26047. Большие интегральные схемы(БИС) запоминающихся устройств(ЗУ). Организация БИС ЗУ 15.67 KB
  Большие интегральные схемы БИС запоминающихся устройств ЗУ. Организация БИС ЗУ Большая интегральная схема БИС интегральная схема ИС с высокой степенью интеграции число элементов в ней достигает 10000 используется в электронной аппаратуре как функционально законченный узел устройств вычислительной техники автоматики измерительной техники и др. По количеству элементов все интегральные схемы условно делят на следующие категории...
26048. Двоичные счётчики 15.41 KB
  Двоичные счётчики Счетчик представляет собой устройство состояние которого определяется числом поступивших на его вход импульсов. Счетчики используют для подсчета числа импульсов и фиксации этого числа в заданном коде деления частоты следования импульсов формирования последовательностей импульсов и кодов управления цифровыми блоками. Двоичный n разрядный счетчик содержит n каскадносоединенных ячеек в качестве которых используют счетные Ттриггеры При поступлении входных импульсов по их спаду происходит последовательное изменение...
26049. Инвертор 13.41 KB
  Единица на выходе схемы И будет тогда и только тогда когда на всех входах будут единицы. Связь между выходом z этой схемы и входами x и y описывается соотношением: z = xy читается как x и y . Когда хотя бы на одном входе схемы ИЛИ будет единица на её выходе также будет единица. Условное обозначение схемы ИЛИ представлено на рис.
26050. Понятие информации в информатике 22.96 KB
  Система представления чисел двоичными цифрами называется двоичной системой счисления. В общем случае позиционной системой счисления называется позиционное представление чисел в котором последовательные цифровые разряды являются целыми степенями целого числа называемого основанием системы. Например в десятичной системе счисления основанием которой является число 10 каждый следующий старший разряд в 10 раз больше предыдущего. Целое число М в позиционной системе счисления с основанием n записывается в виде M=ak ak1a1 a0 где ak ak1a1 a0...
26051. Импульсные и непрерывные электрические сигналы. Характеристики импульсных непрерывных электрических сигналов 14.34 KB
  Импульсные и непрерывные электрические сигналы. Характеристики импульсных непрерывных электрических сигналов Электрические импульсы генерируемые с определённой частотой тактовой частотой управляют всей работой компьютерного процессора побуждая его совершать ряд последовательных операций по обработке информации. Электрические импульсы возникающие в результате природных или техногенных процессов могут приводить к нежелательным результатам. Электрические импульсы различаются по форме виду зависимости тока или напряжения от времени и...
26052. Транзисторно-транзисторная логика ТТЛ) 17.7 KB
  нас RБ достаточный для того чтобы транзистор находился в режиме насыщения. В результате увеличится ток базы VT2 который будет протекать от источника питания через резистор Rб и коллекторный переход VT1 и транзистор VT2 перейдёт в режим насыщения.нас=U0 транзистор VT2 в насыщении. 0 многоэмиттерный транзистор VT1 находится в режиме насыщения а транзистор VT2 закрыт.
26053. Микросхемы ТТЛ с диодами Шотки(ТТЛШ) 13.52 KB
  3 Элементы ТТЛШ С целью увеличения быстродействия элементов ТТЛ в элементах ТТЛШ используются транзисторы Шотки представляющие собой сочетание обычного транзистора и диода Шотки включённого между базой и коллектором транзистора. Поскольку падение напряжения на диоде Шотки в открытом состоянии меньше чем на обычном pnпереходе то большая часть входного тока протекает через диод и только его малая доля втекает в базу. В связи с этим имеет место увеличение быстродействия транзисторного ключа с барьером Шотки в результате уменьшения времени...
26054. Эмитерно-связанная логика(ЭСЛ) 14.42 KB
  Он состоит из двух транзисторов в коллекторную цепь которых включены резисторы нагрузки RК а в цепь эмиттеров обоих транзисторов общий резистор Rэ по величине значительно больший Rк. На вход одного из транзисторов подаётся входной сигнал Uвх а на вход другого опорное напряжение Uоп. Схема симметрична поэтому в исходном состоянии Uвх=Uоп и через оба транзистора протекают одинаковые токи. При увеличении Uвх ток через транзистор VT1 увеличивается возрастает падение напряжения на сопротивлении Rэ транзистор VT2 подзакрывается и ток...
26055. Сравнительный анализ технологий производства микросхем 18.62 KB
  Если этот дефект окажется в критической точке то последующая диффузия примеси может вызвать короткое замыкание перехода и выход из строя всей микросхемы. Одним из эффективных методов визуализации является использование сканирующего электронного микроскопа позволяющего наблюдать топографический и электрический рельеф интегральной микросхемы. Для наблюдения необходимо чтобы поверхность микросхемы была открытой. Такую аппаратуру используют для оценки качества конструкции данной микросхемы...